[发明专利]一种光电成像系统性能评估实验分析方法有效

专利信息
申请号: 201010610980.9 申请日: 2010-12-29
公开(公告)号: CN102567608A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 赵怀慈;刘海峥;郝明国;花海洋;王立勇 申请(专利权)人: 中国科学院沈阳自动化研究所
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 李晓光
地址: 110016 辽*** 国省代码: 辽宁;21
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 光电 成像 系统 性能 评估 实验 分析 方法
【权利要求书】:

1.一种光电成像系统性能评估实验分析方法,其特征在于包括以下步骤:

建立光电成像系统性能预测模型;

在性能预测模型中划分输入因素集和输出指标集;

对输入因素集进行筛选实验;

根据筛选实验结果划分模型输入因素水平,建立模型输入因素水平表;

根据模型输入因素水平表,选取正交表,形成实验方案;

调用性能预测模型计算各实验方案对应的输出指标集;

利用输出指标集进行极差分析和灵敏度分析,结束本次实验分析过程。

2.按权利要求1所述的光电成像系统性能评估实验分析方法,其特征在于:所述划分输入因素集和输出指标集的过程为:

根据光电成像系统成像质量影响因素,将输入因素集划分为三个方面:目标背景特性、自然环境特性以及成像系统特性;输出指标集包括光电成像系统性能评估指标,即目标探测概率和目标识别概率。

3.按权利要求2所述的光电成像系统性能评估实验分析方法,其特征在于:

目标背景特性包含:目标大小、目标外形、目标背景对比度;自然环境特性包含:太阳夹角、能见度、观测距离、环境照度;成像系统特性包含:焦距、光学孔径、工作波长、光学透过率、象元尺寸、视场角、象元填充因子、象元个数以及量子效率;

上述各特性参数的固定条件为:确定某一通用显示器参数,将其视为常值;确定某一目标尺寸和对比度,将其属性设置为常值;确定某一典型大气条件。

4.按权利要求1所述的光电成像系统性能评估实验分析方法,其特征在于:对输入因素集进行筛选实验的过程为:

选取要考察的输入因素集中的某因素,固定其他输入因素,作多个水平的实验,检测选取该因素是否对实验指标具有显著影响,作为进一步实验的因素选择依据;

通过对多个因素实验筛选,确定自然环境特性中的环境照度、自然环境特性中观测距离、成像系统特性中光学孔径、焦距、光学透过率、象元填充因子以及量子效率,同时确定成像系统特性中视场角、象元尺寸取值。

5.按权利要求1所述的光电成像系统性能评估实验分析方法,其特征在于:建立模型输入因素水平表的过程为:

选取输入因素集中某因素,固定其他输入因素取值,在所选取的输入因素取值范围内计算输出指标,根据所选因素对输出指标影响幅度划分该因素水平,依次对其他输入因素进行上述操作,形成输入因素水平表。

6.按权利要求1所述的光电成像系统性能评估实验分析方法,其特征在于:选取正交表形成实验方案为:根据输入因素水平表,选择适合的正交试验表,形成实验方案表。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院沈阳自动化研究所,未经中国科学院沈阳自动化研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010610980.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top