[发明专利]检测触摸位置的方法、触摸位置检测装置以及显示装置有效

专利信息
申请号: 201010611140.4 申请日: 2010-12-29
公开(公告)号: CN102122219A 公开(公告)日: 2011-07-13
发明(设计)人: 金局炫 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G06F3/042 分类号: G06F3/042
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 郭鸿禧;罗延红
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 检测 触摸 位置 方法 装置 以及 显示装置
【权利要求书】:

1.一种检测触摸位置的方法,所述方法包括以下步骤:

发射光;

接收来自所述光的多个光束,所述光束具有彼此不同的路径,所述光束根据触摸被部分地反射;

基于接收到的光束中的光的量检测触摸位置。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,单独地接收所述光束。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述光束被多个触摸元件部分地反射,所述触摸元件具有彼此不同的折射率。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述光通过均发射一个或多个光束的多个发光元件发射。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,通过使发射的光穿过光波导的入射表面来从所述光得到所述光束,所述入射表面具有多个倾斜表面。

6.根据权利要求1所述的方法,其中,检测触摸位置的步骤包括:

基于第n光束中的光的量来检测第n触摸元件的触摸位置;

基于第(n-1)光束中的光的量来检测第n触摸元件和第(n-1)触摸元件的触摸位置;

利用检测到的第n触摸元件的触摸位置及检测到的第n触摸元件和第(n-1)触摸元件的触摸位置来检测第(n-1)触摸元件的触摸位置,

其中,n是自然数。

7.一种触摸位置检测装置,所述触摸位置检测装置包括:

发光部件,发射光;

光波导,所述光波导包括光入射表面、触摸表面和光出射表面,其中,光入射表面靠近发光部件设置,所述光入射到光入射表面,触摸表面被触摸件触摸,光出射表面与光入射表面相对,从光出射表面射出的光中得到多个光束,所述光束具有彼此不同的路径,所述光束根据所述触摸件而被部分地反射;

光接收表面,靠近光出射表面,并且包括分别接收从光出射表面射出的光束的多个光接收元件;

检测部件,基于光接收部件接收到的光束中的光的量来检测触摸位置。

8.一种显示装置,所述显示装置包括:

发光部件,发射光;

光波导,所述光波导包括光入射表面、触摸表面和光出射表面,其中,光入射表面靠近发光部件设置,所述光入射到光入射表面,触摸表面被触摸件触摸,光出射表面与光入射表面相对,多个光束射出光出射表面,所述光束具有彼此不同的路径,所述光束根据所述触摸件而被部分地反射;

光接收表面,靠近光出射表面,并且包括分别接收从光出射表面射出的光束的多个光接收元件;

检测部件,基于光接收部件接收到的光束中的光的量来检测触摸位置;

显示面板,设置在光波导的下方,并且根据触摸位置显示图像。

9.根据权利要求8所述的显示装置,其中,所述发光部件包括发射光束的多个发光元件,

其中,光入射表面以第一倾斜角连接到光波导的触摸表面,光出射表面以第二倾斜角连接到光波导的触摸表面,第一倾斜角基本等于第二倾斜角。

10.根据权利要求8所述的显示装置,其中,光波导的光入射表面包括多个第一倾斜表面,第一倾斜表面将从发光部件发射的光转换为光束,

其中,光波导的光出射表面包括多个第二倾斜表面,第二倾斜表面分别面向第一倾斜表面。

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