[发明专利]立体显示装置的参数测量系统和方法有效

专利信息
申请号: 201010612859.X 申请日: 2010-12-29
公开(公告)号: CN102207424A 公开(公告)日: 2011-10-05
发明(设计)人: 简培云;郑华兵 申请(专利权)人: 深圳超多维光电子有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 丁建春;李庆波
地址: 518053 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 立体 显示装置 参数 测量 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种立体显示装置的参数测量系统,其特征在于,包括:

测试板,用于接收立体显示装置显示的测试画面的投影;

图像采集模块,用于采集投影在所述测试板上的投影图像,并将采集到的投影图像传送到图像处理模块;

图像处理模块,与所述图像采集模块相连接,用于对接收到的投影图像进行解析,得到立体显示装置的图像显示参数;以及

控制中心,与所述图像处理模块相连接,用于根据所述立体显示装置的图像显示参数,计算出所述立体显示装置的光栅参数实际值。

2.如权利要求1所述的立体显示装置的参数测量系统,其特征在于,还包括:载体模块和载体控制模块,其中所述载体控制模块分别连接到所述控制中心和所述载体模块,且所述测试板承载在所述载体模块上,所述载体控制模块用于接收所述控制中心发出的位置调整指令,根据所述位置调整指令控制所述载体模块的运行,以使所述载体模块将其承载的测试板移动至与所述位置调整指令相对应的位置。

3.如权利要求2所述的立体显示装置的参数测量系统,其特征在于,所述载体模块包括伺服电机、活动杆和导轨,其中所述测试板设置在所述导轨上方,所述活动杆可活动地连接在所述伺服电机和所述测试板之间,且所述活动杆在所述伺服电机的驱动下带动所述测试板沿所述导轨水平移动至所述控制中心指令的位置。

4.如权利要求3所述的立体显示装置的参数测量系统,其特征在于,当立体显示装置开机时,控制中心读取立体显示装置的初始化值中的初始位置,并根据初始位置,向载体控制模块发出位置调整指令,驱动载体模块将其承载的测试板移动初始位置。

5.如权利要求1所述的立体显示装置的参数测量系统,其特征在于,所述预设测试画面为红绿交叉的测试图。

6.一种立体显示装置的参数测量方法,其特征在于,包括:

立体显示装置显示测试画面;

测试板接收立体显示装置显示的测试画面的投影;

图像采集模块采集投影在所述测试板上的投影图像,并将采集到的投影图像传送到图像处理模块;

图像处理模块对接收到的投影图像进行解析,得到立体显示装置的图像显示参数;以及

控制中心根据所述立体显示装置的图像显示参数,计算出所述立体显示装置的光栅参数实际值。

7.如权利要求6所述的立体显示装置的参数测量方法,其特征在于,所述光栅参数实际值包括光栅栅距、光栅放置距离、光栅偏转角度和光栅中心偏移量中的一个或多个。

8.如权利要求7所述的立体显示装置的参数测量方法,其特征在于,在进行光栅偏转角度测量时,所述控制中心对所述立体显示装置的光栅偏转角度进行周期性调节,且在每个调节周期内,所述控制中心对所述立体显示装置的像素排列周期进行周期性调节,并指令所述图像处理模块控制所述图像采集模块对投影在所述测试板的图像分别进行采集,所述图像处理模块从采集到的图像中选取对比度值最大时对应的光栅偏转角度值作为光栅偏转角度测量值并反馈给所述控制中心。

9.如权利要求8所述的立体显示装置的参数测量方法,其特征在于,在进行光栅栅距和光栅放置距离测量时,所述控制中心对所述立体显示装置的像素排列周期进行周期性调节,且在每个调节周期内,所述控制中心对所述测试板的位置进行周期性调节,并指令所述图像处理模块控制所述图像采集模块对投影在所述测试板的图像分别进行采集,所述图像处理模块对采集到的图像进行解析得到多个像素排列周期与测试板的位置对应的数据对,并反馈给所述控制中心,所述控制中心根据所述多个像素排列周期与测试板的位置对应的数据对,计算得到光栅栅距实际值和光栅放置距离实际值。

10.如权利要求9所述的立体显示装置的参数测量方法,其特征在于,在进行光栅中心偏移量测量时,所述控制中心对所述测试板的位置进行周期性调节,并指令所述图像处理模块控制所述图像采集模块对投影在所述测试板的图像分别进行采集,所述图像处理模块对采集到的图像分别进行解析并将解析结果反馈给所述控制中心,所述控制中心通根据所述解析结果计算得到所述测试板在不同位置时所述立体显示装置的像素排列中心点偏移值,并进一步根据所述偏移值计算出光栅中心偏移量。

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