[发明专利]一种利用公差带的光电测量方法无效
申请号: | 201010613004.9 | 申请日: | 2010-12-30 |
公开(公告)号: | CN102128592A | 公开(公告)日: | 2011-07-20 |
发明(设计)人: | 徐春云 | 申请(专利权)人: | 徐春云 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/24 |
代理公司: | 东莞市创益专利事务所 44249 | 代理人: | 李卫平 |
地址: | 523000 广东省东莞市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 公差 光电 测量方法 | ||
1.一种利用公差带的光电测量方法,其特征在于:该方法包括如下步骤:
1)、将被测物的标准图输入光电测量仪的电脑中,并在标准图上任意选取边线,构建一坐标A;
2)、将被测物放上光电测量仪的工作台上,通过镜头获取被测物的图像,输入电脑;
3)、在电脑显示的被测物的图像上抓取与步骤1)所选取标准图的边线对应的图像边线,构建另一坐标B;
4)、将坐标A与坐标B重叠,实现被测物的图像与标准图重叠;
5)、输入公差参数,通过电脑在被测物的图像上形成一公差带;
6)、电脑根据公差带自动扫描抓取被测物的图像边线上的点,然后将获取点连起来,获得被测物的图形;
7)、电脑对被测物的图形进行测量,即获得被测物的实际参数值。
2.根据权利要求1所述的一种利用公差带的光电测量方法,其特征在于:步骤6)中,电脑根据公差带的下限值往上限值方向自动扫描抓取被测物的图像边线上的点。
3.根据权利要求1所述的一种利用公差带的光电测量方法,其特征在于:坐标A和坐标B为平面二维坐标。
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