[发明专利]星上定标光源LED发光性能测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及空间光学领域，具体涉及一种空间相机星上定标光源LED的光性能测试装置。

背景技术

在空间相机星上定标光源发光二极管LED升级筛选测试中，LED的发光性能是筛选LED的重要指标，只有经过严格筛选测试合格的LED才能被用作空间相机星上定标光源。LED筛选试验包括：高温贮存、温度冲击、电老练等试验，每次试验后都要对LED进行发光性能检测，主要检测LED的发射光谱，通过发射光谱可以计算LED的峰值波长，半波宽度等，如果系统经过定标可以计算LED的辐射强度或辐射功率等参数。目前已有单个LED的光性能检测设备，但由于每次筛选LED的数量比较大(500只)，目前没有相关的快速智能化的检测装置，另外在升级筛选试验中，电老练是其中的一个重要环节，在电老练时，所有LED要在其最大工作电流下连续工作240h，且需要监视LED的发光性能变化趋势，此前没有该设备。

发明内容

本发明为解决现有星上定标光源LED发光性能检测装置只能实现对单个LED的光性能进行检测的问题，提供一种星上定标光源LED发光性能测试装置。

星上定标光源LED发光性能测试装置，该装置包括LED驱动电路、安装支架、旋转圆盘、旋转圆盘驱动系统、固定支架、光谱仪、光纤、积分球、计算机控制系统；所述LED驱动电路和旋转圆盘分别固定在安装支架上，旋转圆盘上设置LED测试安装孔，LED测试安装孔的对应位置设置积分球，积分球的出光孔与光纤的一端连接，光纤的另一端与光谱仪连接；所述旋转圆盘底部设置旋转圆盘驱动系统，并将二者固定在一起，旋转圆盘驱动系统固定在固定支架上；所述计算机控制系统分别与旋转圆盘驱动系统和光谱仪连接。

本发明的工作原理：将被测试的LED安装在本发明所述装置中所述的直径为0.5m的旋转圆盘上，所述每只LED的距离按5度间隔均匀的安装在旋转圆盘的边缘的圆周上，在圆盘的下方安装测试积分球接收LED发出的光，在积分球壁安装光谱仪，用于实时测量LED的发射光谱。同时控制旋转圆盘旋转在每个LED位置暂停，待完成此LED的测试后，转到下一LED位置进行测试，如此循环完成所有LED的测试后，回到第1只LED的位置开始下一轮的测试。所述接收LED发光的积分球和光谱仪经过定标后可直接测量LED的峰值波长、半波宽度、辐射强度或辐射功率等发光性能参数。为了适合更多LED的测试，每只LED恒流供电，供电电流包含5mA、10mA、15mA、20mA、25mA、30mA、35mA、40mA、45mA、50mA、60mA、85mA、100mA。本发明所述装置可测试炮弹型LED和贴片LED。

本发明的有益效果：本发明为一种能同时对多只LED和多种型号的LED进行快速智能化的检测装置；本发明所述装置能够快速完成星上定标光源LED筛选试验中的发光性能测试和LED电老练过程中的发光性能监视，且在电老练试验时，能监视所有LED在电老练过程中的其发光性能变化趋势。

附图说明

图1为本发明所述的星上定标光源LED发光性能测试装置的结构示意图；

图2为本发明所述的星上定标光源LED发光性能测试装置中旋转圆盘上安装三种测试安装孔的俯视图。

图中：1、LED驱动电路，2、安装支架，3、第一LED测试安装孔，4、第二LED测试安装孔，5、第三LED测试安装孔，6、旋转圆盘，7、圆盘旋转驱动系统，8、固定支架，9、光谱仪，10、光纤，11、积分球，12、计算机控制系统。

具体实施方式

具体实施方式一、结合图1和图2说明本实施方式，星上定标光源LED发光性能测试装置，该装置包括LED驱动电路1、安装支架2、旋转圆盘6、旋转圆盘驱动系统7、固定支架8、光谱仪9、光纤10、积分球11、计算机控制系统12；所述LED驱动电路1和旋转圆盘6分别固定在安装支架2上，旋转圆盘6上设置LED测试安装孔，LED测试安装孔的对应位置设置积分球11，积分球11的出光孔与光纤10的一端连接，光纤10的另一端与光谱仪9连接；所述旋转圆盘6底部固定旋转圆盘驱动系统7，旋转圆盘驱动系统7固定在固定支架8上；所述计算机控制系统12分别与旋转圆盘驱动系统7和光谱仪9连接。

本实施方式中还包括支架13，所述光谱仪9和积分球11固定在支架13上，所述光谱仪9与固定在固定支架8上的旋转圆盘驱动系统7的位置平行。

本实施方式所述积分球11的入光孔与LED测试安装孔的距离小于1mm。所述积分球11的入光孔的孔直径大于LED的安装孔直径，使积分球11能全部接收LED发出的光。