[发明专利]读可靠性获得提高的含有多位存储单元的快闪存储器件有效
申请号: | 201010616568.8 | 申请日: | 2010-12-31 |
公开(公告)号: | CN102148058A | 公开(公告)日: | 2011-08-10 |
发明(设计)人: | 蔡东赫;韩真晚 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11C16/02 | 分类号: | G11C16/02;G11C16/26 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 钱大勇 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 可靠性 获得 提高 含有 存储 单元 闪存 器件 | ||
1.一种快闪存储器件,包括:
存储单元阵列,包括多个存储单元;
控制逻辑,被配置为控制对存储单元的读操作;
页面缓冲电路,被配置为响应于控制逻辑的控制从多个所选择的存储单元的每一个中读取硬判决数据和多个软判决数据,并且输出所读取的硬判决数据和多个软判决数据作为读取结果;以及
电压产生器,被配置为响应于控制逻辑的控制产生用于读取硬判决数据和多个软判决数据的多个读电压。
2.如权利要求1所述的快闪存储器件,其中,所述电压产生器产生用于读取硬判决数据的参考电压和用于读取软判决数据的多个可变读电压。
3.如权利要求1所述的快闪存储器件,其中,在读取结果中所包含的软判决数据以页面缓冲电路所读取的格式被输出,或者被编码和输出为可靠性数据。
4.如权利要求3所述的快闪存储器件,其中,可靠性数据在页面缓冲电路中被编码。
5.如权利要求3所述的快闪存储器件,其中,读取结果包括1位的硬判决数据和i位的可靠性数据,其中i是大于0的正整数。
6.如权利要求3所述的快闪存储器件,其中,页面缓冲电路包括分别对应于所选择的存储单元的多个页面缓冲器,而页面缓冲器每一个包括:多个第一类型锁存器,被配置为通过根据软判决数据值跳转的锁存值来编码可靠性数据;以及第二类型锁存器,被配置为锁存硬判决数据。
7.如权利要求5所述的快闪存储器,其中,读取结果包括1位的硬判决数据和j位的软判决数据,其中j是大于i的正整数。
8.一种快闪存储器件的读取方法,包括:
产生多个可变读电压和参考电压,用于从每个所选择的存储单元读取硬判决数据;
通过将参考电压和可变读电压应用于所选择的存储单元,读取硬判决数据和多个软判决数据;以及
作为读取结果输出所读取的硬判决数据和软判决数据,其中,软判决数据以所读取格式被输出,或者被编码和输出为可靠性数据。
9.如权利要求8所述的读取方法,其中,可靠性数据在页面缓冲电路中被编码。
10.如权利要求8所述的读取方法,其中,响应于分别对应于所选择的存储单元的软判决数据的值,由分别对应于所选择的存储单元的页面缓冲器的两个或多个锁存器的已跳转锁存值编码可靠性数据。
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