[发明专利]一种检定仪的自校准方法

权利要求书

1.一种检定仪的自校准方法，其特征在于：其包括下列步骤：

1）在具有测量单元和输出单元的检定仪上设置控制单元和自校准单元，控制单元与自校准单元连接；自校准单元包括切换开关单元，所述切换开关单元分别与测量单元和输出单元连接；

切换开关单元包括：第一开关、第二开关和第三开关；第一开关的两端与测量单元连接在一起，同时第一开关的两端又分别与第二开关和第三开关的一端相连；第二开关和第三开关的另一端与输出单元连接；

2）控制单元设定上述检定仪进行自校准的时间间隔；

3）当上述检定仪开机或自校准的时间间隔到了后，控制单元控制自校准单元使其自动进行测量自校准；

4）采用经过校准的测量作为基准，控制单元控制自校准单元使其自动进行输出自校准。

2.根据权利要求1所述的一种检定仪的自校准方法，其特征在于：所述测量自校准，输出自校准均发生在所述具有自校准功能的检定仪进行正常测量和输出的工作之外的时间。

3.根据权利要求1或2所述的一种检定仪的自校准方法，其特征在于：所述控制单元包括CPU及其对应的用于启动并实行自校准过程的固化程序。

4.根据权利要求1或2所述的一种检定仪的自校准方法，其特征在于：所述自校准单元还包括内置标准信号源/高精度低温漂的电子元器件。

5.根据权利要求1或2所述的一种检定仪的自校准方法，其特征在于，所述测量自校准包括下列步骤：

1）切断测量单元与外界的所有连接；

2）通过切换开关单元短路所述测量单元，则此时测量单元的测量值为零点的信号；

3）运用所述检定仪内部自带的测量功能进行测量，测量到此时的测量单元的信号，并把该信号作为零点偏移值；

4）所述测量校验的满度校准通过高精度低温度系数的电子元器件来保证，故上述零点偏移值即为测量自校准的偏移值；结束测量自校准；

5）在后续的测量中，将测量单元的测量值减去上述测量自校准的偏移值作为修正后的测量值。

6.根据权利要求1或2或4所述的一种检定仪的自校准方法，其特征在于，所述测量自校准包括下列步骤：

1）切断测量单元与外界的所有连接；

2）通过切换开关单元短路所述测量单元，则此时测量单元的测量值为零点的信号；

3）运用所述检定仪内部自带的测量功能进行测量，测量到此时的测量单元的信号，并把该信号作为零点偏移值；

4）利用切换开关单元使测量单元与内置标准信号源连接；则此时测量单元的测量值为内置标准信号源的值；并把该值作为测量自校准的满度附近参考值；

5）通过控制单元对上述3）和4）得到的零点偏移值和满度附近的偏移值进行线性运算；即得到了测量自校准的偏移值；结束测量自校准。

7.根据权利要求1或2所述的一种检定仪的自校准方法，其特征在于，所述输出自校准包括下列步骤：

1）切断测量单元和输出单元与外界的所有连接；

2）通过切换开关单元使测量单元与输出单元连接；

3）控制单元控制输出单元输出零点附近的信号，并通过测量单元得到一个测量值，该测量值减去在前述测量自校准得到的偏移值后，得到输出自校准的零点附近的偏移值；

4）控制单元控制输出单元输出满度附近的信号，并通过测量单元得到一个测量值，该测量值减去在前述测量自校准得到的偏移值后，得到输出自校准的满度附近的偏移值；

5）通过控制单元对上述3）和4）得到的零点附近的偏移值和满度附近的偏移值进行线性运算；即得到了输出自校准的偏移值； 

6）将上述输出自校准的偏移值返回控制单元，使控制单元根据该值将输出单元的输出值修正至与测量值一致，结束输出自校准。