[发明专利]可用于相变存储的相变材料及调节其相变参数的方法无效

专利信息
申请号: 201010619461.9 申请日: 2010-12-31
公开(公告)号: CN102544361A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 饶峰;任堃;宋志棠;吴良才 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;C01B19/00
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 王松
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 用于 相变 存储 材料 调节 参数 方法
【权利要求书】:

1.一种可用于相变存储的相变材料,其特征在于,所述相变材料为锡、锑、碲三种元素组成的存储材料。

2.根据权利要求1所述的可用于相变存储的相变材料,其特征在于:

所述存储材料中,锡的原子百分比含量为0.1-90%。

3.根据权利要求1所述的可用于相变存储的相变材料,其特征在于:

所述存储材料中,碲的原子百分比含量为0.1-90%。

4.根据权利要求1所述的可用于相变存储的相变材料,其特征在于:进一步对相变材料SnxSbTey进行掺杂,掺杂剂量原子百分含量在0-90%之间;

掺杂元素为锗、硒、磷、硫、金、银、铟、钛、钨、铝、锡、铋、镓、硼、氧、氮、氢、或稀土元素中一种,或为上述几种元素的混合掺杂。

5.根据权利要求1至4之一所述的可用于相变存储的相变材料,其特征在于:

所述相变材料在外部能量作用下具有可逆变化。

6.根据权利要求5所述的可用于相变存储的相变材料,其特征在于:

所述相变材料在不同状态之间的可逆转变是通过电驱动、激光脉冲驱动或电子束驱动实现的。

7.根据权利要求5所述的可用于相变存储的相变材料,其特征在于:

在相变存储中,相变存储器的低阻态对应所述相变材料全部或部分结晶,相变存储器的高阻态对应所述相变材料的非晶态。

8.根据权利要求5所述的可用于相变存储的相变材料,其特征在于:

脉冲电压的强度为0.001-20V,对应的脉冲宽度为0.001-1000ns。

9.一种可用于相变存储的相变材料,其特征在于,所述相变材料包括锡、锑、碲三种元素;

进一步对相变材料SnxSbTey进行掺杂,掺杂剂量原子百分含量在0-90%之间;

掺杂元素为锗、硒、磷、硫、金、银、铟、钛、钨、铝、锡、铋、镓、硼、氧、氮、氢、或稀土元素中一种,或为上述几种元素的混合掺杂。

10.一种调节权利要求1至9之一所述相变材料结晶温度和熔点的方法,其特征在于,通过控制相变材料中各元素的含量,精确调节材料的结晶温度、熔点和相变速度。

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