[发明专利]一种基于粒子群算法优化参数的存储性能测试系统及方法无效

专利信息
申请号: 201010619704.9 申请日: 2010-12-31
公开(公告)号: CN102184746A 公开(公告)日: 2011-09-14
发明(设计)人: 朱立谷;赵廷涛 申请(专利权)人: 中国传媒大学
主分类号: G11C29/08 分类号: G11C29/08
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 张杰
地址: 100024 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 粒子 算法 优化 参数 存储 性能 测试 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种基于粒子群算法优化参数的存储性能测试系统,其特征在于:包括测试管理模块、数据采集模块、粒子群建立模块、参数优化调整模块、负载测试模块、测试数据分析模块、测试结果输出模块,

测试管理模块:为用户提供人机交互的管理界面,通过所述管理界面用户来启动或停止测试、输入多个测试参数;

数据采集模块:采集、记录和整理用户通过所述测试管理模块输入的所述多个测试参数,检查所述多个测试参数是否可用、是否符合输入规则;

粒子群建立模块:分析所述数据采集模块的输入的多个测试参数,以所述多个测试参数为粒子构建一个粒子群模型,并进行初始化;

参数优化调整模块:先获得当前粒子群模型中各个粒子的状态,然后根据所述测试数据分析模块中获得的最优值,按照粒子群优化算法,确定下一次测试时各个粒子的参数值;

负载测试模块:执行测试,根据所述参数优化调整模块中确定的参数值,调用测试程序对文件系统进行测试,测试完成后输出测试结果;

测试数据分析模块:接收所述负载测试模块输出的测试结果,与之前的测试结果进行对比分析,获得结果的最优值,确定全局最优值和局部最优值,并记录此时的粒子群模型中的粒子状态;

测试结果输出模块:输出测试过程中产生的中间结果和测试完成后的最终结果。

2.根据权利要求1所述的基于粒子群算法优化参数的存储性能测试系统,其特征在于:还包括日志信息模块,用于记录系统信息和测试过程中产生的错误信息。

3.根据权利要求1或2所述的基于粒子群算法优化参数的存储性能测试系统,其特征在于:所述测试管理模块设置有用户实时查看测试过程中的信息、查看测试结果、查看日志信息的接口。

4.一种使用权利要求1-3所述的基于粒子群算法优化参数的存储性能测试系统的存储性能测试方法,其特征在于,包括如下步骤:

(1)通过测试管理模块获得用户输入的测试参数,并将所述测试参数传递给数据采集模块进行分析和检测;

(2)由粒子群建立模块利用所述数据采集模块分析后的结果结合粒子群优化算法建立粒子群模型,并进行初始化;

(3)由参数优化调整模块根据粒子群建立模块中的初始化状态获得粒子群个的各个粒子的状态,确定进行测试的参数值;

(4)由负载测试模块根据所述参数优化调整模块中确定的参数值,调用测试程序对文件系统进行测试,测试完成后输出测试结果;

(5)由测试数据分析模块接收所述负载测试模块输出的测试结果,与之前的测试结果进行对比分析,获得结果的最优值,如果之前没有测试结果,则认为此次的测试结果为最优值,记录此时的粒子状态;

(6)参数优化调整模块根据所述步骤(5)中测试数据分析模块中记录的数据,判断终止条件是否已满足,如果满足终止条件则转步骤(7),如果不满足终止条件,根据所述步骤(5)中测试数据分析模块中得到的最优值,按照粒子群优化算法,确定下一次测试时各个粒子的参数值,转到步骤(4);

(7)通过测试结果输出模块输出测试过程中产生的中间结果和测试完成后的最终结果。

5.根据权利要求4所述的存储性能测试方法,其特征在于:在所述步骤(6)中,终止条件为设定的循环次数。

6.根据权利要求4所述的存储性能测试方法,其特征在于:在所述步骤(6)中,终止条件为所述步骤(5)中测试出的最优值与上次最优值的误差小于误差标准。

7.根据权利要求6所述的存储性能测试方法,其特征在于:所述误差标准为2%-10%。

8.根据权利要求4或5或6所述的存储性能测试方法,其特征在于:所述步骤中还包括通过日志信息模块记录系统信息和测试过程中产生的错误信息。

9.根据权利要求8所述的存储性能测试方法,其特征在于:用户通过测试管理模块实时查看测试过程中的信息、查看测试结果、查看日志信息。

10.根据权利要求4或5或6或7或9所述的存储性能测试方法,其特征在于:在所述步骤(5)中,所述最优值包括全局最优值和局部最优值。

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