[发明专利]高纯锗探测器定位测量支架

权利要求书

1.高纯锗探测器定位测量支架，该支架包括以下部件：薄膜源固定器(1)、横向导轨(2)、测量立杆(3)、探测器底座(4)、纵向导轨(5)、推车(6)和滑块(12)，其中探测器底座(4)由3个弧形片状结构组成，纵向导轨(5)是两条平行轨道，测量立杆(3)由两根平行立柱组成，探测器底座(4)和纵向导轨(5)固定在推车(6)上，测量立杆(3)的底座安装在纵向导轨(5)上，测量立杆(3)垂直于纵向导轨(5)，测量立杆(3)的两根平行立柱中心轴位置安装了滑块(12)；横向导轨(2)的一端与滑块(12)轴连接；薄膜源固定器(1)穿过横向导轨(2)的两根平行杆。

2.根据权利要求1所述的高纯锗探测器定位测量支架，其特征在于：所述的探测器底座(4)下安装了高纯锗探测器升降台，该升降台由升降支架(7)，升降平台(8)，手轮(9)，轨道(10)，和轨道(11)组成，其中，升降支架(7)由4根金属杆两两相交叉，4根金属杆的8个末端中，a、b两端与推车(6)上的固定件轴连接，c、d两端与升降平台(8)下表面上的固定件轴连接，e、f两端与轨道(10)上的两个滑动部件轴连接，g、h两端与轨道(11)上的两个滑动部件轴连接，2根金属杆的交叉点是轴连接；轨道(10)固定在推车(6)上；轨道(11)固定于升降平台(8)下表面，轨道(11)与轨道(10)的位置是长方体上平行的4条边；手轮(9)安装在升降平台(8)下表面，轨道(11)的两个导轨之间。

3.根据权利要求1所述的高纯锗探测器定位支架，其特征在于：所述的横向导轨(2)、测量立杆(3)、纵向导轨(5)上都设有标尺。