[发明专利]一种基于IEEE1149.4的模拟电压监测方法

说明书

技术领域

本发明属于板级电路可测试性设计技术领域，特别涉及一种基于IEEE1149.4的模拟电压监测方法。

背景技术

随着芯片集成度和复杂度的提高，特别是边界扫描技术的出现，“物理探针”正逐渐被“虚拟探针”所取代。边界扫描机制提供了一种完整的、标准化的可测试性设计方法。自从边界扫描标准出现以来，市场上支持边界扫描机制的芯片及设计开发软件与日俱增，其应用越来越广泛。特别是数字电路板中边界扫描技术的使用正日趋成熟。

而PCB板中相当多的电路属于数字信号和模拟信号混合的情况，对模拟信号的监测通常使用增加测试点或使用电路板上边缘连接器上空的I/O引脚将关键信号引出。但是这种方案将增加较多的连线，而且边缘连接器上空置的I/O引脚有限，当测试点较多时，需要增加额外的边缘连接器，从而导致PCB板的器件增加。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种模拟电压监测方法，能够在不增加过多连线和器件的情况下，实现较多测试点的模拟电压检测。

该方案是这样实现的：

一种基于IEEE1149.4的模拟电压监测方法，具体如下：

(1)将符合IEEE1149.4标准的芯片按照电路板设计的边界扫描链路构建方式接入电路板的边界扫描链；

(2)将电路板中的检测点电压信号连接到所述符合IEEE1149.4标准的芯片上具有模拟边界模块ABM的引脚上；

(3)将符合IEEE1149.4标准的芯片的功能引脚AT2连接到边缘连接器的输出端口；

(4)电压监测时，设置芯片中当前检测点对应的ABM处于P1模式，即引脚状态由AB2总线监测，其他ABM处于P0模式；设置测试总线接口电路TBIC处于P1或P3模式，即将AB2总线连接到AT2上；

本步骤(4)通过TDI引脚串行输入指令和数据实现，具体包括：

先加载PRELOAD指令，然后将当前检测点对应的ABM处于P1模式，其他ABM处于P0模式；设置测试总线接口电路TBIC处于P1或P3模式；最后，施加EXTEST指令。

(5)通过AT2引脚观测检测点电压。

其中，当边界扫描链中接入至少2个符合IEEE1149.4标准的芯片时，可以将各符合IEEE1149.4标准的芯片的功能引脚AT2连接到同一输出端口，或者将不同符合IEEE1149.4标准的芯片的功能引脚AT2连接到不同输出端口。

有益效果：

上述方法中，充分利用了1149.4芯片内核开关的优越性，通过“虚拟探针”建立电路板上多个内部关键点的测试通道，同时仅需将1149.4芯片的AT2测试引脚连接到电路板边缘连接器的输出端口，减少了输出端数目，其相当于在电路板上增加了多路转换器。但不同的是，该方法应用了边界扫描技术，无需多余的辅助电路，

由以上所述可以看出，本发明充分利用了IEEE1149.4芯片内核开关的优越性，仅需将IEEE1149.4芯片的AT2测试引脚连接到电路板边缘连接器的输出端口上，即可利用功能引脚作为“虚拟探针”建立电路板上多个内部测试点的测试通道，减少了输出端口数目，其相当于在电路板上增加了多路转换器，但是实际并未增加器件。由于无需将测试点逐一引到电路板边缘连接器，从而减少了PCB板上的连线。该方法应用了边界扫描技术，无需多余的辅助电路，在一定程度上降低了测试成本，而边界扫描技术的采用更是提高了电路板整体的可测性设计水平。

此外，本发明未采用专用芯片实现电压监测，而是采用电路板上任意符合IEEE1149.4标准的芯片，这些芯片在不进行电压监测的时间段还可以执行自身的功能操作，而通过选定为监测模式，可实现对电路板关键电压信号的在线监测而不影响电路的正常工作。

附图说明

图1为本发明符合IEEE1149.4标准的芯片串行接入扫描链的示意图。

图2为本发明符合IEEE1149.4标准的芯片并联接入扫描链的示意图。

图3为本发明符合IEEE1149.4标准的芯片分立接入扫描链的示意图。

图4为本发明电压信号测试连接示意图。

具体实施方式