[发明专利]多阶段扫描触碰位置侦测装置及方法有效
申请号: | 201010621659.0 | 申请日: | 2010-12-28 |
公开(公告)号: | CN102541337A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 林阿镇;潘文杰 | 申请(专利权)人: | 杜彦宏 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周长兴 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阶段 扫描 位置 侦测 装置 方法 | ||
技术领域
本发明是有关于用于触控显示模块的装置及方法,特别是关于用于触控显示模块的多阶段扫描触碰位置侦测装置及方法。
背景技术
按,目前的触控显示模块一般是以X-Y阵列的定频扫描方式(例如自复数条Y扫描线轮流择一作为供电端,而自复数条X扫描线轮流择一作为接收端以接收一模拟感测信号)侦测一触碰位置。然而,当触控显示模块的尺寸变大后,亦即当Y扫描线及X扫描线的数目变大后,传统的X-Y阵列扫描方式即变得缺乏效率-其控制IC的接脚数大幅增加,且触控显示模块的显示画面亦容易受其定频触控扫描的干扰。
发明内容
本发明的目的在于提供一种多阶段扫描触碰位置侦测装置。
本发明的又一目的在于提供一种多阶段扫描触碰位置侦测方法。
为实现上述目的,本发明提供的多阶段扫描触碰位置侦测装置,其具有:
一扫描线连接电路,用以依一扫描线连接控制信号控制一第一扫描线群与一第二扫描线群间的互连组态,以规划一传感器的等效分辨率分布,其中所述的第二扫描线群与该传感器耦接;
一触碰扫描单元,用以依一分辨率规划信号自所述的第一扫描线群中选择一部分扫描线以侦测一阶段性触碰坐标,及由一第一坐标信号送出所述的阶段性触碰坐标;以及
一触碰坐标决定单元,具有复数个工作阶段,用以:依所述的工作阶段决定所述扫描线连接控制信号的状态及所述分辨率规划信号的状态;经由所述的第一坐标信号读取所述的阶段性触碰坐标;以及组合在各所述工作阶段侦测到的所述阶段性触碰坐标。
本发明提供的多阶段扫描触碰位置侦测装置,还具有:
一扫描线组合电路,用以依一扫描线组合电路控制信号选择一第三扫描线群的一部份以连接至一第二扫描线群,以自一传感器选择一子区域,其中该第三扫描线群与该传感器耦接;
一扫描线连接电路,用以依一扫描线连接控制信号控制一第一扫描线群与所述第二扫描线群间的互连组态,以规划该子区域的等效分辨率分布;
一触碰扫描单元,用以依一分辨率规划信号自所述的第一扫描线群中选择一部分扫描线以侦测一阶段性触碰坐标,及由一第一坐标信号送出所述的阶段性触碰坐标;以及
一触碰坐标决定单元,具有一扫描线组合电路操作阶段及一子区域扫描阶段,其中该子区域扫描阶段具有复数个工作阶段,该触碰坐标决定单元用以:在该扫描线组合电路操作阶段决定所述扫描线组合电路控制信号的状态及产生一子区域坐标;在该子区域扫描阶段依所述的工作阶段决定所述扫描线连接控制信号的状态及所述分辨率规划信号的状态,及自所述的第一坐标信号读取所述的阶段性触碰坐标;以及组合该子区域坐标及在各所述工作阶段侦测到的所述阶段性触碰坐标。
所述的多阶段扫描触碰位置侦测装置,其中,所述的传感器为电阻式、电容式、声波式、或电磁式的阵列触控传感器。
所述的多阶段扫描触碰位置侦测装置,其中,该等效分辨率分布为一均匀分布或一不均匀分布。
所述的多阶段扫描触碰位置侦测装置,其中,该触碰扫描单元包含一模拟至数字转换器。
所述的多阶段扫描触碰位置侦测装置,其中,该扫描线组合电路是以玻璃覆晶的方式整合于该传感器中。
本发明提供的多阶段扫描触碰位置侦测方法,其步骤包含:
以第一等效分辨率分布侦测一传感器的一触碰事件的第一坐标;
以第二等效分辨率分布在与该第一坐标对应的所述传感器的一局部区域侦测该触碰事件的第二坐标;以及
组合该第一坐标及该第二坐标。
本发明提供的多阶段扫描触碰位置侦测方法,其步骤还包含:
以一分区扫描的方式自一传感器选择一子区域,其中所述的子区域对应至一子区域坐标;
以第一等效分辨率分布侦测所述子区域其一触碰事件的第一坐标;
以第二等效分辨率分布在与该第一坐标对应的所述子区域的一局部区域侦测该触碰事件的第二坐标;以及
组合该子区域坐标、该第一坐标、及该第二坐标。
所述的触碰位置侦测方法,其中,包含以1×1的等效分辨率分布侦测所述传感器的步骤。
所述的触碰位置侦测方法,其中,该第一等效分辨率分布为一均匀分布或一不均匀分布。
所述的触碰位置侦测方法,其中,该第二等效分辨率分布为一均匀分布或一不均匀分布。
本发明提供的多阶段扫描触碰位置侦测装置,以提升触碰位置的侦测效率、降低操作功耗、降低控制IC的接脚数、减少电磁波干扰、及减少对显示画面的干扰。
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