[发明专利]基于半导体光放大芯片的激光器无效
申请号: | 201010621994.0 | 申请日: | 2010-12-31 |
公开(公告)号: | CN102104232A | 公开(公告)日: | 2011-06-22 |
发明(设计)人: | 阮军;张首刚;吴长江;张辉;刘杰;刘丹丹 | 申请(专利权)人: | 中国科学院国家授时中心 |
主分类号: | H01S5/10 | 分类号: | H01S5/10;H01S5/30 |
代理公司: | 西安永生专利代理有限责任公司 61201 | 代理人: | 申忠才 |
地址: | 710600 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 半导体 放大 芯片 激光器 | ||
1.一种基于半导体光放大芯片的激光器,其特征在于:在底板(10)上设置有侧壁加工有导线孔、右侧壁加工有出光孔的盖体(9,盖体(9)内底板(10)的左侧设置安装有压电换能器(1)的支撑块(12),压电换能器(1)的右侧设置有全反射镜(2),底板(10)上全反射镜(2)右侧水平光轴方向设置有聚焦透镜(3),聚焦透镜(3)右侧水平光轴方向设置有选模器件(4),选模器件(4)右侧水平光轴方向设置有第一准直透镜(5),第一准直透镜(5)右侧水平光轴方向设置有入射面镀有增透膜、出射镀有部分反射膜的半导体光放大芯片(6,半导体光放大芯片(6右侧水平光轴方向设置有第二准直透镜(7),第二准直透镜(7)右侧水平光轴方向设置有柱透镜(8)。
2.按照权利要求1所述的基于半导体光放大芯片的激光器,其特征在于:所说的半导体光放大芯片(6)入射面的增透膜为真空交替蒸镀8~12层二氧化硅和二氧化锆增透膜、出射面的部分反射膜为真空交替蒸镀10~18层氟化镁和氟化钙反射膜或真空交替蒸镀10~16层二氧化硅和氟化镁反射膜。
3.按照权利要求1所述的基于半导体光放大芯片的激光器,其特征在于:所说的全反射镜(2)与半导体光放大芯片(6)出射面的部分反射膜构成激光谐振腔,聚焦透镜(3)位于谐振腔内,全反射镜(2位于聚焦透镜(3)的焦点所在的垂直平面内,全反射镜(2)与聚焦透镜(3)之间的距离与聚焦透镜(3)的焦距相等,全反射镜(2)的镜面上真空交替蒸镀有24~30层三氧化二铝和五氧化二钽反射膜。
4.按照权利要求1所述的基于半导体光放大芯片的激光器,其特征在于:所说的选模器件(4)为带宽小于200GHz、刻线密度为300~600l/mm的透射光栅或透过率为80%~97%的法布里-珀罗标准具。
5.按照权利要求1所述的基于半导体光放大芯片的激光器,其特征在于:所说的半导体光放大芯片(6)与第一准直透镜(5)之间的距离与第一准直透镜(5)的焦距相等。
6.按照权利要求1所述的基于半导体光放大芯片的激光器,其特征在于:所说的柱透镜(8)与半导体光放大芯片(6)之间的距离与柱透镜(8)的焦距相等。
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