[发明专利]一种光谱分析方法

权利要求书

1.一种光谱分析方法，包括以下步骤：

A、建立分析模型

激发标准样品，获得原子光谱信息；

从所述光谱信息中选择分析元素的m条特征谱线，m≥2；

根据上述m条特征谱线对应的谱线数据及所述分析元素的元素含量/诱导含量，建立分析模型；

B、分析未知样品

按照步骤A的方法获得未知样品相应分析元素的谱线数据，并代入上述分析模型，得到未知样品相应分析元素的含量。

2.根据权利要求1所述的光谱分析方法，其特征在于：所述分析模型为Y_p×1＝X_p×t×F_t×1，其中Y为元素含量/诱导含量矩阵，X为谱线数据矩阵，F为系数矩阵，p为样品个数，p≥2，t≥m。

3.根据权利要求2所述的光谱分析方法，其特征在于：

a1、取m条特征谱线的谱线强度组成行向量I；

将p块样品的行向量I组合，建立强度矩阵A_p×q，q＝m；

a2、利用矩阵A_p×q构建s次多项式矩阵B_p×t，t＝s×q+1，s＝1，2，……；

a3、将矩阵B_p×t作为谱线数据矩阵X_p×t。

4.根据权利要求3所述的光谱分析方法，其特征在于：由矩阵A_p×q构建矩阵B_p×t的方法为：

矩阵B_p×t第(s×i-j+1)列各矩阵元素为矩阵A_p×q第i列相应矩阵元素的j次方，i＝1，2，…，q；j＝1，2，…，s；

矩阵B_p×t第(s×q+1)列各矩阵元素均为常数。

5.根据权利要求4所述的光谱分析方法，其特征在于：矩阵B_p×t第(s×q+1)列各矩阵元素均为1。

6.根据权利要求3所述的光谱分析方法，其特征在于：

在步骤A中，从所述光谱信息中再选择n条内标元素的特征谱线，n≥1；

步骤a1为：将m条分析元素的特征谱线和n条内标元素的特征谱线交叉配对，并取配对后相应特征谱线的谱线强度比值，组成行向量I；

将p块样品的行向量I组合，建立强度矩阵A_p×q，q＝m×n。

7.根据权利要求3所述的光谱分析方法，其特征在于：

步骤a1中，特征谱线各波长点强度组成长度为r的谱线强度向量，m条特征谱线的谱线强度向量组成行向量I，r≥1；

将p块样品的行向量I组合，建立强度矩阵A_p×q，q＝m×n×r。

8.根据权利要求7所述的光谱分析方法，其特征在于：

在步骤A中，从所述光谱信息中再选择n条内标元素的特征谱线，内标谱线特征谱线各波长点强度组成长度为l的谱线强度向量，l≥1；

步骤a1为：将m条分析元素的特征谱线和n条内标元素的特征谱线交叉配对，并对配对的谱线强度向量中的向量元素交叉配对，并取交叉配对后向量元素的比值，组成行向量I；

将p块样品的行向量I组合，建立强度矩阵A_p×q，q＝m×n×r×l。

9.根据权利要求3或6或7或8所述的光谱分析方法，其特征在于：

不包括步骤a2；

步骤a3为：将矩阵A_p×q作为谱线数据矩阵X_p×t，q＝t。

10.根据权利要求6或8所述的光谱分析方法，其特征在于：内标元素为样品基体元素。

11.根据权利要求1所述的光谱分析方法，其特征在于：采用偏最小二乘算法，建立分析模型。