[发明专利]集成电路下层硬件映射方法、数据控制流生成方法及装置

权利要求书

1.集成电路下层硬件映射方法，其特征在于包括：

程序分析步骤，用于读取描述集成电路算法的计算机语言程序，根据该计算机语言的规则从所述计算机语言程序中识别出被映射的执行对象和参数对象；

数据控制流图生成步骤，用于将识别出的执行对象和参数对象映射成描述集成电路算法的数据控制流图中的相应节点；

算子时空图生成步骤，用于根据数据控制流图中的各节点所进行的功能处理从预先建立的算子单元库中取出对应功能的至少一个算子单元，将数据控制流图转换成由算子单元组成的算子时空图；

时序约束步骤，用于根据用户规格需求和目标集成电路工艺的要求确定出总时序约束，对算子时空图中的每个算子单元标注时间，对算子时空图的每个层级进行时序约束；

时空图压缩步骤，用于根据时间标注对时空图进行空间上的聚类压缩，并使之总体算法执行时间最接近于总时序约束；

下层硬件映射步骤，根据聚类压缩后的时空图生成集成电路下层硬件逻辑描述。

2.集成电路下层硬件映射装置，其特征在于包括：

程序分析模块，用于读取用于描述集成电路算法的计算机语言程序，根据该计算机语言的规则从所述计算机语言程序中识别出被映射的执行对象和参数对象；

数据控制流图生成模块，用于将识别出的执行对象和参数对象映射成描述集成电路算法的数据控制流图中的相应节点；

算子时空图生成模块，用于根据数据控制流图中的各节点所进行的功能处理从预先建立的算子单元库中取出对应功能的至少一个算子单元，将数据控制流图转换成由算子单元组成的算子时空图；

时序约束模块，用于根据用户规格需求和目标集成电路工艺的要求确定出总时序约束，对算子时空图中的每个算子单元标注时间，对算子时空图的每个层级进行时序约束；

时空图压缩模块，用于根据时间标注对时空图进行空间上的聚类压缩，并使之总体算法执行时间最接近于总时序约束；

下层硬件映射模块，根据聚类压缩后的时空图生成集成电路下层硬件逻辑描述。

3.数据控制流生成方法，其特征在于包括：

程序分析步骤，用于读取描述集成电路算法的计算机语言程序，根据该种计算机语言的规则从所述计算机语言程序中识别出被映射的执行对象和参数对象，所述执行对象包括运算指令和/或控制指令，所述参数对象包括输入数据、输出数据和中间数据中的至少一种；

数据控制流图生成步骤，用于将识别出的执行对象和参数对象映射成描述集成电路算法的数据控制流图中的相应节点。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述数据控制流图生成步骤中，将所述运算指令映射为处理框图，将所述控制指令映射为用于标识状态、状态转移条件及状态控制信号的控制流，将所述参数对象映射为数据流上的存储节点。

5.如权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述程序分析步骤包括：根据该种计算机语言的规则从所述计算机语言程序中查找出函数，对所述函数的输入输出和函数内的运算进行解析，识别出执行对象和参数对象，在解析过程中，如果当前被解析的函数为包含下层函数的上层函数，则继续对下层函数进行解析。