[发明专利]放射线摄像装置有效
申请号: | 201010623105.4 | 申请日: | 2010-12-27 |
公开(公告)号: | CN102113891A | 公开(公告)日: | 2011-07-06 |
发明(设计)人: | 广冈研 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;A61B6/06;G01T1/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 李贵亮 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 放射线 摄像 装置 | ||
1.一种放射线摄像装置,获得放射线图像,其中所述装置包括以下要素:
具备:散射放射线去除单元,其去除散射放射线;和
放射线检测单元,其矩阵状地构成检测放射线的多个检测元件;
按照如下方式构成所述散射放射线去除单元:使得吸收所述散射放射线的吸收层的配置方向与所述检测元件的行方向、列方向中的至少一个方向平行,并且使得由所述吸收层吸收放射线而引起的吸收层对所述放射线检测单元的所述吸收层的阴影中,相互相邻的阴影间的间隔变得比构成所述放射线图像的各个像素的间隔大,
所述装置包括以下要素:
第1摄像数据取得单元,其取得有被检体以及所述散射放射线去除单元的状态下的摄像数据;
摄像数据平滑化单元,其对由该第1摄像数据取得单元取得的摄像数据沿所述吸收层的延伸方向进行平滑化;
格栅数据取得单元,其取得没有被检体而有所述散射放射线去除单元的状态下的格栅数据;
无阴影像素算出单元,其根据由该格栅数据取得单元取得的格栅数据中的所述阴影,求出没有阴影的像素;
影子总量算出单元,其根据由该无阴影像素算出单元求出的没有阴影的像素位置,求出每一个所述吸收层的影子总量;
摄像数据补正单元,其根据由该影子总量算出单元求出的每一个吸收层的影子总量,基于所述影子总量对由所述摄像数据平滑化单元进行了平滑化的所述摄像数据进行补正;
第2摄像数据取得单元,其根据由该摄像数据补正单元进行了补正的摄像数据、以及由所述第1摄像数据取得单元取得的所述摄像数据,求出阴影去除后的数据,并取得该去除后的数据作为最终的摄像数据。
2.根据权利要求1所述的放射线摄像装置,其特征在于,
所述装置包括以下要素:
像素区分单元,其利用所述摄像数据来区分由所述第1摄像数据取得单元取得的所述摄像数据中的像素中与由所述无阴影像素算出单元求出的所述格栅数据中的没有所述阴影的像素对应的像素、和其他像素;
像素值插值单元,其根据由该像素区分单元进行了区分的像素中与所述格栅数据中的没有所述阴影的像素对应的像素的像素值,插值其他像素的像素值;和
透过率临时算出单元,其根据由所述第1摄像数据取得单元取得的所述摄像数据中的像素的像素值、以及由所述像素值插值单元插值的像素值,临时求出放射线的透过率;
所述摄像数据平滑化单元对由所述透过率临时算出单元临时求出的所述摄像数据中的放射线的透过率,进行所述平滑化,
所述摄像数据补正单元根据所述影子总量对由所述摄像数据平滑化单元进行了平滑化的所述摄像数据中的放射线的透过率进行补正,
所述第2摄像数据取得单元根据由所述摄像数据补正单元进行了补正的所述摄像数据中的放射线的透过率、以及由所述第1摄像数据取得单元取得的所述摄像数据中的像素值,求出阴影去除后的像素值,并取得排列了该去除处理后的像素值的放射线图像作为最终的摄像数据。
3.根据权利要求1所述的放射线摄像装置,其特征在于,
所述装置包括以下要素:
具备散射分量去除处理单元,其通过运算对由所述第1摄像数据取得单元取得的所述摄像数据中的由所述散射放射线去除单元没有完全去除的散射放射线分量进行去除处理;
所述第2摄像数据取得单元根据由所述散射分量去除处理单元去除了所述散射放射线分量的所述摄像数据,取得所述最终的摄像数据。
4.根据权利要求3所述的放射线摄像装置,其特征在于,
所述散射分量去除处理单元用未知的所述散射放射线分量与同样未知的直接放射线分量之和来表示已知的像素值,通过求解用所述散射放射线分量与所述直接放射线分量之和表示了所述像素值的联立方程式,从而求出未知的所述散射放射线分量或者未知的所述直接放射线分量。
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