[发明专利]一种预测高成岩阶段低孔低渗碎屑岩有效储层的方法无效

专利信息
申请号: 201010624522.0 申请日: 2010-12-30
公开(公告)号: CN102562048A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 尹太举;张昌民;杨威 申请(专利权)人: 长江大学
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00
代理公司: 北京市中实友知识产权代理有限责任公司 11013 代理人: 熊成香
地址: 434023*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 预测 高成岩 阶段 低孔低渗 碎屑岩 有效 方法
【权利要求书】:

1.一种预测高成岩阶段低孔低渗碎屑岩有效储层的方法,其特征在于,具体步骤如下:

(1)地质资料的收集;

(2)原始资料数据库的建立;

(3)以井点资料为基础,模拟约束井的沉积充填史、热源演化史,确定不同时期的地温梯度;

(4)以井点资料为基础,模拟约束点的各沉积相的结构相类型,确定对不同沉积相原始孔隙度的影响参数,建立不同类型储层原始孔隙度的预测模型;

(5)以井点资料为基础,模拟约束点的压实演化史,确定压实减孔参数,固化压实减孔模型;

(6)恢复钙质胶结史、硅质胶结史、粘土矿物胶结史,确定钙质胶结指数、硅质胶结指数、粘土胶结指数,固化胶结减孔模型;

(7)恢复长石等组构溶解史,确定各组构溶解系数,固化各组构溶解模型;

(8)读入分层数据、沉积相数据及构造模型,建立地质模型;

(9)模拟目标区的沉积充填史;

(10)模拟目标区的热演化史,确定目标地层不同地质时间时的温度、热成熟度、所处成岩阶段;

(11)依据地质模型,模拟目标层段的原始孔隙度;

(12)模拟目标区的压实减孔史,确定不同时期的累积压实减孔量;

(13)模拟目标区的钙质胶结史、硅质胶结史、粘土胶结史,确定不同时期累积胶结减孔量;

(14)模拟目标区的溶解史,确定不同时期溶解增孔量;

(15)计算不同地质时期目标层段的总孔隙度;

(16)按总孔隙度对储层进行评价,确定有效储层的发育区间。

2.根据权利要求1所述的一种预测高成岩阶段低孔低渗碎屑岩有效储层的方法,其特征在于所述的地质资料的收集包括以下内容:目标地区的地层序列及各地质年代持续时间;目标地区钻井分层数据、目标层段沉积相研究成果图件、不同地层界面构造图;目标层段的热成熟度分析数据、胶结物含量、溶蚀孔隙度、残余孔隙度等数据。

3.根据权利要求1所述的一种预测高成岩阶段低孔低渗碎屑岩有效储层的方法,其特征在于所述的原始资料数据库的建立包括以下几个方面:

(1)热成熟度指标TTI值与成熟度Ro值及成岩阶段之间关系的理论关系数据库;

(2)地质年代符号与地质年代持续时间数据库;

(3)沉积相类型、符号序列库数据库;

(4)结构相与原始孔隙度关系数据库;

(5)用于约束模型的单井模拟数据库,包括单井分层数据、单井沉积相分析成果数据、单井储层结构参数、单井成熟度分析数据、单井成油成气时代分析数据、单井孔隙度分析数据、单井孔隙类型及孔隙构成数据;

(6)地质模型数据库,包括研究区钻井分层数据、不同地层界面构造图、目标层段沉积相平面图等。

4.根据权利要求1所述的一种预测高成岩阶段低孔低渗碎屑岩有效储层的方法,其特征在于所述的总孔隙度是原生孔隙中残留孔隙与新生的溶解孔隙的总和,即原生孔隙,加上新增的溶解孔隙量,减去压实、胶结减少的孔隙便可得到高成岩储层目前的孔隙度即:

其中:

为某地质时刻储层总的孔隙度;

为某储层原始孔隙度;

为第i种地质作用增减的孔隙度。

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