[实用新型]测试系统及其试片结构

权利要求书

1.一种试片结构，其可容纳于一多功能测试装置中，其特征在于，包括：

一测试单元，位于该试片上；

一测试端子，位于该试片的一端，具有多个导电端子，且所述多个导电端子至少之一与该测试单元电性连接；以及

一辨识单元，位于该试片的一侧，该辨识单元为一连续导线图案以供该多功能测试装置读取并产生一辨识信号。

2.如权利要求1所述的试片结构，其特征在于，其中该多功能测试装置包含一读取接口、一显示单元、一微处理单元以及一存储器单元。

3.如权利要求2所述的试片结构，其特征在于，其中该微处理单元分别与该显示单元、该读取接口单元以及该存储器单元电性连接。

4.如权利要求3所述的试片结构，其特征在于，其中该存储器单元存储至少一测试参数。

5.如权利要求4所述的试片结构，其特征在于，其中该微处理单元根据该辨识单元的该辨识信号与该存储器单元进行比对，并获得相对应该试片的该测试参数。

6.如权利要求5所述的试片结构，其特征在于，其中该微处理器单元根据该相对应试片的该测试参数，通过该读取接口单元提供一测试电压或测试电流至该测试端子。

7.如权利要求6所述的试片结构，其特征在于，其中该测试单元根据该测试电压或电流进行电化学反应，并产生一测试信号。

8.如权利要求7所述的试片结构，其特征在于，其中该微处理单元接收该测试信号，并根据相对应该试片的测试参数进行计算以获得一测试结果，并显示于该显示单元。

9.如权利要求8所述的试片结构，其特征在于，其中该试片还包含一温度感测单元以及一湿度感测单元。

10.如权利要求9所述的试片结构，其特征在于，其中该微处理单元还根据该温度感测单元以及该湿度感测单元的温度及湿度信号对该试片的测试参数进行调整。

11.如权利要求1所述的试片结构，其特征在于，其中该测试端子还包括一勾状端子。

12.一种测试系统，其特征在于，包括：

一多功能测试装置，包括一微处理单元、一读取接口单元、一存储器单元以及一显示单元，其中该微处理单元分别与该显示单元、该读取接口单元以及该存储器单元电性连接；以及

一试片，包括一测试单元、一测试端子以及一辨识单元，且该试片通过该测试端子与该多功能测试装置的该读取接口单元连接；

其中，该测试单元与该测试端子电性连接，且该辨识单元为一连续导线图案。

13.如权利要求12所述的测试系统，其特征在于，其中该辨识单元产生一辨识信号。

14.如权利要求13所述的测试系统，其特征在于，其中该微处理单元根据该辨识单元的辨识信号与该存储器单元进行比对，并获得相对应该试片的一测试参数，其中该测试参数存储于该存储器单元。

15.如权利要求14所述的测试系统，其特征在于，其中该微处理器单元根据该相对应试片的测试参数，通过该读取接口单元提供一测试电压或电流至该测试端子。

16.如权利要求15所述的测试系统，其特征在于，其中该测试单元根据该测试电压或电流进行电化学反应，并产生一测试信号。

17.如权利要求16所述的测试系统，其特征在于，其中该微处理单元接收该测试信号，并根据相对应该试片的测试参数进行计算以获得一测试结果，并显示于该显示单元。

18.如权利要求17所述的测试系统，其特征在于，其中该试片还包含一温度感测单元以及一湿度感测单元。

19.如权利要求18所述的测试系统，其特征在于，其中该微处理单元还根据该温度感测单元以及该湿度感测单元的温度及湿度信号对该试片的测试参数进行调整。

20.如权利要求12所述的测试系统，其特征在于，其中该测试端子还包括一勾状端子。