[实用新型]金属氧化物场效应二极管及MOS二极管无效
申请号: | 201020022576.5 | 申请日: | 2010-01-15 |
公开(公告)号: | CN201611660U | 公开(公告)日: | 2010-10-20 |
发明(设计)人: | 王毅;施立秋;沈克强;蒋李望 | 申请(专利权)人: | 扬州扬杰电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/861 | 分类号: | H01L29/861;H01L27/08 |
代理公司: | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人: | 奚衡宝 |
地址: | 225008 江苏省扬州市平*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 金属 氧化物 场效应 二极管 mos | ||
1.金属氧化物场效应二极管,以硅片为基材,其特征在于,它包括栅、源、漏、源N+区、漏N+区、P+区、P阱区、正极片和负极片;
源N+区的顶面为源极,漏N+区的底面为漏极,栅的顶面为栅极;
所述硅片设有上、下两层,上层为高阻区,下层为漏N+区;
所述源N+区、P+区和P阱区均设于所述高阻区的上部;
所述正极片设于硅片顶面,负极片设于漏N+区的底面;
所述栅极和源极相互短接;
所述源N+区同栅、P+区、P阱区及正极片相连;
P+区还同P阱区及正极片相连;
P阱区还同栅及所述高阻区相连。
2.根据权利要求1所述的金属氧化物场效应二极管,其特征在于,所述栅包括栅氧层和多晶硅层,所述栅氧层与源N+区、P阱区及所述高阻区相连;所述栅氧层和多晶硅层还分别与正极片相连;多晶硅层的顶面为栅极。
3.一种包含权利要求1所述金属氧化物场效应二极管的MOS二极管,其特征在于,它包含至少二个所述一种金属氧化物场效应二极管,相互并联集成于所述硅片上。
4.根据权利要求3所述的MOS二极管,其特征在于,所述一种金属氧化物场效应二极管中的栅呈条状,至少二个呈条状的栅相互间隔排列呈正方形形成一个元胞集合。
5.根据权利要求4所述的MOS二极管,其特征在于,所述元胞集合至少有两个,相互间呈90°布设。
6.根据权利要求3、4或5所述的MOS二极管,其特征在于,所述正极片为铝金属层,或钛、镍和银三层金属层,其中钛层为接触硅片顶面的一层,或铬、镍和银三层金属层,其中钛层为接触硅片顶面的一层,或钛、镍、钨和银四层金属层,其中钛层为接触硅片顶面的一层;负极片为钛、镍和银三层金属层,其中钛层为接触漏N+区的底面的一层,或铬、镍和银三层金属层,其中钛层为接触漏N+区的底面的一层,或钛、镍、钨和银四层金属层,其中钛层为接触漏N+区的底面的一层。
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