[实用新型]测径仪光学元件调整检测装置无效

专利信息
申请号: 201020033073.8 申请日: 2010-01-14
公开(公告)号: CN201611252U 公开(公告)日: 2010-10-20
发明(设计)人: 陈虎秋 申请(专利权)人: 宝山钢铁股份有限公司
主分类号: G01B11/08 分类号: G01B11/08
代理公司: 上海集信知识产权代理有限公司 31254 代理人: 周成
地址: 201900 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 测径仪 光学 元件 调整 检测 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及测径仪光学元件调整的辅助设备,更具体地说,涉及一种测径仪光学元件调整检测装置。

背景技术

请参阅图1所示,图1为钢铁企业常用的用于线材产品尺寸测量的测径仪100,其工作原理如下:通过光源2发射的光线通过一面凸透镜4以及一对平行45°反光镜3后,再通过透镜组5进行光路转换,进入摄像机镜头6,而当轧件线材通过测径仪100时,会导致光路受阻形成阴影,阴影的大小与线材的直径呈正比,因此在摄像机镜头6上捕捉到的阴影即为线材的直径,同时通过光学系统盘1的转动,可完成对线材外形轮廓的测量。但在实际使用过程中,测径仪的光学元件(如反光镜3、光源2、凸透镜4以及摄像机镜头6等)在安装或更换时会造成光学中心偏移,必须进行调整以保证光学中心的重合。由于光学元件的调整的好坏决定了光线最终进入摄像机镜头6的强弱,因此调整是否到位将直接影响到测径仪100的测量效果。

目前,该测径仪100光学元件的调整方式一般均需要先将测径仪100的光学系统盘1拆卸,再放置在与测径仪100相配套的精密调整平台上,进行离线调整,最后再进行安装。由于上述拆卸、安装工作十分繁琐,导致整个调整过程需要数个小时,费时费力,影响了工作效率,从而无法满足轧线持续生产的需要。

实用新型内容

针对现有技术中存在的上述缺点,本实用新型的目的是提供一种测径仪光学元件调整检测装置,该摄像机能够直观反映光学元件的调整情况,从而有利于提高光学元件的调整速度。

为实现上述目的,本实用新型采用如下技术方案:

该测径仪光学元件调整检测装置设于测径仪的摄像机镜头一端,包括连接管和成像镜,连接管一端与摄像机镜头连接固定,成像镜设于连接管的另一端,并与连接管连接固定。

所述的成像镜为玻璃材质,一端面刻有坐标尺,另一端面设有反光涂层。

所述的连接管一端设有外螺纹,并与摄像机镜头螺纹配合固定,另一端设有内螺纹。

该检测装置还包括一带外螺纹的紧固环,所述的成像镜设于连接管设有内螺纹的一端内,紧固环设于成像镜的外侧,并通过螺纹配合与连接管固定。

在上述技术方案中,本实用新型的测径仪光学元件调整检测装置设于测径仪的摄像机镜头一端,包括连接管和成像镜,连接管一端与摄像机镜头连接固定,成像镜设于连接管的另一端,并与连接管连接固定。该检测装置利用光线经过光学元件最终在成像镜上的成像来反映光学元件的调整情况,从而为光学元件的调整提供精确参照,从而无需拆卸光学系统盘,便能够实现快速调整,不但降低了调整难度和所需时间,而且还保证了连续生产的效率。

附图说明

图1是现有技术的测径仪的结构示意图;

图2是图1中A部放大示意图;

图3是本实用新型的测径仪光学元件调整检测装置的结构以及安装示意图;

图4是本实用新型的检测装置的成像镜的结构示意图;

图5是光线在反光镜安装角度发生偏差时形成的反射原理图;

图6是当反光镜安装角度发生偏差时,光线在成像镜上形成的图像示意图;

图7是当光学中心发生偏差时,光线在成像镜上形成的图像示意图;

图8是光学元件调整到位时,光线在成像镜上形成的图像示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例进一步说明本实用新型的技术方案。

请参阅图3所示,该测径仪光学元件调整检测装置10设于测径仪的摄像机镜头6一端,包括连接管11和成像镜12,连接管11一端与摄像机镜头6连接固定,成像镜12设于连接管11的另一端,并与连接管11连接固定。请结合图4所示,所述的成像镜12为玻璃材质,一端面刻有坐标尺,另一端面设有反光涂层,用于成像。所述的连接管11一端外壁呈台阶状,并设有外螺纹,用以与摄像机镜头6进行螺纹配合固定;连接管11另一端内壁呈台阶状,并设有内螺纹。该检测装置10还包括一带外螺纹的紧固环13,所述的成像镜12设于连接管11设有内螺纹的一端内,紧固环13设于成像镜12的外侧,并通过螺纹配合与连接管11固定,从而将成像镜12紧固在连接管11内。

该检测装置10的工作原理如下:

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