[实用新型]石英晶体测试头装置有效
| 申请号： | 201020100290.4 | 申请日： | 2010-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN201637762U | 公开（公告）日： | 2010-11-17 |
| 发明（设计）人： | 刘长春 | 申请（专利权）人： | 东莞惠伦顿堡电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/06 | 分类号： | G01R1/06 |
| 代理公司： | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人： | 梁永宏 |
| 地址： | 523750 广东省东莞市黄江镇鸡啼*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 石英 晶体 测试 装置 | ||
【权利要求书】：
1.石英晶体测试头装置，其特征在于：它包括有π回路电路板(10)、测试头(20)，π回路电路板(10)具有两个电极(12)，该两个电极(12)连接有探针(14)，测试头(20)上具有两个接触铜片(22)，两个接触铜片(22)与两个探针(14)分别对应电接触。
2.根据权利要求1所述的石英晶体测试头装置，其特征在于：所述的两个电极(12)均位于π回路电路板(10)的同一侧。
3.根据权利要求2所述的石英晶体测试头装置，其特征在于：所述的两个接触铜片(22)位于测试头(20)的侧面上，探针(14)与接触铜片(22)垂直。
4.根据权利要求1所述的石英晶体测试头装置，其特征在于：所述的测试头(20)纵向开设有安装孔(24)。
5.根据权利要求4所述的石英晶体测试头装置，其特征在于：所述的安装孔(24)分别位于接触铜片(22)的外侧。
6.根据权利要求1所述的石英晶体测试头装置，其特征在于：所述的探针(14)位于π回路电路板(10)外侧。
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