[实用新型]一种光电耦合器检测装置无效
申请号: | 201020102844.4 | 申请日: | 2010-01-21 |
公开(公告)号: | CN201662599U | 公开(公告)日: | 2010-12-01 |
发明(设计)人: | 胡振亮 | 申请(专利权)人: | 深圳市炜烨丰电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R19/00 |
代理公司: | 深圳市永杰专利商标事务所(普通合伙) 44238 | 代理人: | 王峰 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光电 耦合器 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种检测装置,具体涉及一种光电耦合器检测装置。
背景技术
光电耦合器以其光点耦合隔离作用,已被广泛应用在高低压控制电路(如开关电源)中。光电耦合器性能的好坏,直接影响到使用光电耦合器的电系统的稳定性,因此,对光电耦合器的性能进行测量,保证其质量稳定,对保证光电耦合器的电系统的稳定性具有重要意义。
现有的光电耦合器测量,多数是由检测人员采用多台检测设备、经过多步检测程序完成的,存在如下缺陷:
1、受检测人员多步操作的限制,检测效率低,对于大批量生产时,无法实现对产品的逐一检测,只能进行抽样检测,使得检测后产品中可能存在次品而无法排除;
2、检测质量受检测人员检测水平等人为因素影响,检测质量不稳定,难于保证产品检测的可靠性。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题在于,提供一种光电耦合器检测装置,克服检测的人为影响因素,提高检测效率,实现对产品的逐一检测,保证产品质量。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:构造一种光电耦合器检测装置,其特征在于,包括可调恒流源、第一可调恒压源、第一限流电阻、第二可调恒压源、第二限流电阻、转换开关、光电耦合器信号测量仪和光电耦合器输入端连接点、输出端连接点;
所述可调恒流源输出端连接所述转换开关切换端,所述第一可调恒压源输出端经所述第一限流电阻串连在所述转换开关切换端上,所述转换开关固定端连接所述光电耦合器输入端连接点中的阳极端连接点;
所述第二可调恒压源输出端经所述第二限流电阻串连在所述光电耦合器输出端连接点中的集电极端连接点上;
所述光电耦合器信号测量仪包括光电耦合器输入端电压测量部分、输入端电流测量部分、输出端电压测量部分、输出端电流测量部分;所述输入端电压测量部分并接在所述光电耦合器输入端连接点的阳极端连接点和阴极端连接点上,所述输入端电流测量部分串接在所述光电耦合器输入端连接点的阴极端连接点和地之间;所述输出端电压测量部分并接在所述光电耦合器输出端的集电极端连接点和发射极端连接点上,所述输入端电流测量部分串接在所述光电耦合器输出端的发射极端连接点和地之间。
在本实用新型的光电耦合器检测装置中,包括壳体,所述可调恒流源、第一可调恒压源、第一限流电阻、第二可调恒压源、第二限流电阻设置在该壳体内,所述转换开关设置在该壳体上,所述光电耦合器信号测量仪设置在该壳体内或壳体上,所述光电耦合器输入端、输出端连接点设置在该壳体上。
在本实用新型的光电耦合器检测装置中,包括信号发生器,该信号发生器连接在所述转换开关切换端。
在本实用新型的光电耦合器检测装置中,所述光电耦合器的部分输入端连接点、输出端连接点或全部输入端连接点、输出端连接点可移动连接在所述壳体上。
在本实用新型的光电耦合器检测装置中,所述光电耦合器输入端电压测量部分为第一电压表,输入端电流测量部分为第一电流表,输出端电压测量部分为第二电压表,输出端电流测量部分为第二电流表。
在本实用新型的光电耦合器检测装置中,包括与所述光电耦合器输入端、输出端连接点电连接的引出端。
在本实用新型的光电耦合器检测装置中,所述光电耦合器信号测量仪为包括所述光电耦合器输入端电压测量部分、输入端电流测量部分、输出端电压测量部分、输出端电流测量部分的数据采集器,该数据采集器包括与数据处理设备连接的数据输出接口和将所述输入端电压测量部分、输入端电流测量部分、输出端电压测量部分、输出端电流测量部分的模拟检测信号转换为数字信号的模/数转换装置。
在本实用新型的光电耦合器检测装置中,所述数据输出接口为RS232通信接口。
在本实用新型的光电耦合器检测装置中,包括内置测量参数的正常范围数据的测量结果比较器和测量结果显示装置,所述测量结果比较器的输入端连接所述光电耦合器信号测量仪的数据输出端,所述测量结果比较器的输出端控制连接所述测量结果显示装置的控制端。
实施本实用新型的光电耦合器检测装置,与现有技术比较,其有益效果是:
1.检测快速便捷,操作者只需将光电耦合器的输入端、输出端连接在测量装置的光电耦合器输入端连接点、输出端连接点上并转动转换开关,即可在几秒钟之内获得需要的光电耦合器输入端、输出端及传输比数据,对光电耦合器进行性能判断,大大提高了检测效率;
2.排除了人为测量因素的影响,提高了测量质量的可靠性。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明,附图中:
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