[实用新型]长寿命拔插式探针头

说明书

技术领域

本实用新型涉及准确测量硅、锗单晶电阻率及各种导电薄膜方块电阻(又称面电阻率)的探测装置，具体涉及一种长寿命拔插式探针头。

背景技术

电阻率是半导体材料的主要质量参数之一，目前多采用探针头来测量。中华人民共和国国家计量检定规程“四探针电阻率测试仪”(JJG508-87)明确规定：四探针头的探针间距偏不大于2％，探针游移率不大于3％。现有的探针头都是由探针、探针垂直运动的导引部件、探针的加压弹簧三大要件以精确的几何定位构成的，现有的探针头所使用的加压弹簧都是平面弹簧，平面弹簧的优点是制造简单，弹性好，但缺点是寿命短，因此影响了探针头的使用周期。

实用新型内容

本实用新型为了克服以上现有技术存在的不足，提供了一种测量精度高、使用寿命长、制造成本低的长寿命拔插式探针头。

本实用新型的目的通过以下的技术方案实现：本长寿命拔插式探针头，其特征在于：包括筒体、压力调节螺母、螺旋式压力弹簧、引线护罩、针夹盒盖、针夹盒、锥座、探针轴套导引片、螺旋式微型压力弹簧、针夹和合金探针，压力调节螺母位于筒体内，压力调节螺母压住螺旋式压力弹簧，引线护罩插入螺旋式压力弹簧，引线护罩和针夹盒盖固定在针夹盒上面，螺旋式压力弹簧压住引线护罩和针夹盒盖，针夹盒放置在锥座上面，探针轴套导引片固定在锥座头部凹槽内，锥座固定在筒体前端；螺旋式微型压力弹簧与针夹盒盖固定连接，螺旋式微型压力弹簧与针夹固定连接，针夹放置在针夹盒内部的导引槽内，针夹在针夹盒内的导引槽内上下运动，合金探针穿过探针轴套导引片和锥座插入针夹内。

作为一种优选结构，所述筒体尾端用螺钉固定有插座紧固件，插座紧固件设有航空插座，航空插座的针脚通过内引线连接螺旋式微型压力弹簧尾部的弹簧套筒上，内引线穿过压力调节螺母和引线护罩。

作为一种优选结构，所述插座紧固件与航空插座采用螺纹连接、压力调节螺母与筒体之间采用螺纹连接，锥座与筒体之间采用螺纹连接。

作为一种优选结构，所述引线护罩与针夹盒盖一起用3颗螺钉固定在针夹盒上面，螺旋式压力弹簧压在引线护罩根部的平面上。

作为一种优选结构，所述筒体内设有用于限制针夹盒上移距离的限位台阶。

所述针夹盒位于锥座的两根导引柱上，两根导引柱，用于引导针夹盒上下运动，不产生旋转。

所述螺旋式微型压力弹簧、针夹和合金探针均为4个，合金探针的直径为0.5mm，合金探针选择外径小于红宝石轴套内径1～2μm(1级)或者3～5μm(2级)的整体硬质合金探针。锥座内设有4个由模具直接注塑成型的喇叭形探针导引孔，喇叭形探针导引孔便于合金探针的拔插，针夹盒的4个导引槽与锥座上的4个喇叭形探针导引孔在同一轴线上。

作为一种优选结构，所述螺旋式微型压力弹簧尾部的弹簧套筒穿过针夹盒盖上的导引孔并用高强度速干胶与针夹盒盖粘结在一起，螺旋式微型压力弹簧头部的伸缩端与针夹焊接在一起。

作为一种优选结构，所述针夹盒内置有用于限定针夹的上移距离的两片塑料限位片。

所述探针轴套导引片是镶嵌有四个红宝石轴套的金属片，四个红宝石轴套的间距为1.00mm，合金探针穿过探针轴套导引片的红宝石轴套，红宝石轴套与合金探针的单边间隙是3μm，从而保证了探针头针尖的游离率。

本实用新型相对于现有技术具有如下的优点：

一、本长寿命拔插式探针头，螺旋式微型压力弹簧使四根探针在测量过程中针尖最高点的位置始终保持一致，提高了测量的精度，显著提高探针头的使用寿命，并以较低的成本制造而成，有利于解决半导体、液晶行业以及新材料科学研究中要更准确测量电阻率的需要。

二、螺旋式微型压力弹簧采用琴钢线材料制作及其螺旋造型，压缩过程中，每圈弹丝实际形变量很小，相对现有探针头上使用的平面弹簧来说，使用寿命会长得多，寿命一般为其它形式弹簧的5倍以上，且安装固定方便，接线简单。

三、调节压力调节螺母的位置可改变螺旋式压力弹簧的压缩量，从而改变合金探针的下压压力，调节范围可从400g到800g。

四、红宝石轴套与合金探针的单边间隙是3μm，可取得最佳的探针游移率。

五、探针头内部的内引线较少，只有四根，维修非常方便。

附图说明

图1是本实用新型的长寿命拔插式探针头的正面剖视图。

图2是本实用新型的长寿命拔插式探针头的侧面剖视图。

图3是本实用新型的长寿命拔插式探针头的立体图。(省去筒体)

图4是本实用新型的长寿命拔插式探针头的另一立体图。(省去筒体)