[实用新型]用于同定型X荧光光谱仪的等光程双弯晶固定元素道分光器

说明书

技术领域：

本实用新型属于测量设备领域，涉及对X荧光光谱仪固定元素道分光器的改进。

背景技术：

在公知的采用曲面晶体(以下简称弯晶)的多元素同时测定型X荧光光谱仪(以下简称同定型WDXRFS)中，在真空测量室周边安装若干个单弯晶固定元素道分光器，每个分光器是由单一光路通道的入射狭缝管组件、与此狭缝管尾部连接的分光盒组件，以及安装在该分光盒上的出射狭缝管组件构成的。每个分光器安装一块分光晶体，只能用于测定一种元素。该分光器的工作原理是：分析样品中各个被分析元素受到X光管的X射线照射，从而激发出各自的波长互不相同的特征X射线；X射线通过入射狭缝管组件的光路通道，以θ角投射到分光盒组件内的分光晶体表面上；X射线在该分光晶体表面上发生衍射，只有符合Bragg公式2dSinθ＝nλ(n为衍射级数，一般为1，d为晶面间距)的波长为λ的元素特征X射线以同一θ角被晶体衍射，并通过出射狭缝为探测器所检测，其它元素的特征X射线因不符合上述公式，被晶体、分光盒内壁以及出射狭缝管内壁吸收而不能被探测器检测。

发明人曾于2008年公布了专利申请号为200610113280.2的发明，提出了一种双弯晶固定道元素分光器，该分光器中有两个光路通道和两块弯晶，可以同时测定两种不同元素，从而使在安装空间不变的情况下，仪器可同时分析的元素种类成倍增加。但该申请的双晶体分光器，无论是同一分光器或不同分光器，对于不同元素的特征X射线，狭缝至晶体中心的距离即光程长度各不相同。因此，同一个分光器所测定的两种元素，必须根据光程长短进行配对选择，而且不同分光器的入射，出射狭缝管，乃至分光盒体尺寸均不相同，无论是设计、加工或安装调试均比较困难，加工成本高，缺乏互换性，难以实用化。

实用新型内容：

为了解决上述问题，本实用新型的目的在于提供一种用于固定型X荧光光谱仪的固定元素道分光器，每个分光器具有等光程的两条光路通道和两块分光晶体，可以测定两种元素，从而使WEDXRFS仪器体积减小，测量的元素数量成倍增多；同时，对于所有被分析的元素，不论采用何种分光晶体，其光程均相同，使分光器的设计和制造大为简化。

本实用新型采用以下技术方案：

一种用于同定型X荧光光谱仪的等光程双弯晶固定元素道分光器，包括：分光盒组件，具有第一入光口和第二入光口的入射狭缝管组件，两个出射狭缝管组件分别具有第一出光口和第二出光口，以及安装在所述分光盒内的晶体座组件，其中：

所述晶体座组件包括：第一弯晶、第二弯晶、用于支撑第一弯晶的第一晶体支撑装置、用于支撑第二弯晶的第二晶体支撑装置、用于调节第一弯晶的角度位置关系的第一角度调节机构，以及用于调节第二弯晶的角度位置关系的第二角度调节机构；其中，所述第一、第二晶体支撑装置分别绕各自中心的固定轴旋转以保持第一、第二弯晶的中心位置不变，并且，所述第一出光口到所述第一弯晶的中心的距离与所述第二出光口到所述第二弯晶的中心的距离相等，而且与第一入光口到所述第一弯晶的中心的距离、第二入光口到所述第二弯晶的中心的距离也相等。

所述的用于同定型X荧光光谱仪的等光程双弯晶固定元素道分光器中，所述分光盒组件具有一个入口端和两个出口端，所述入射狭缝管组件与所述分光盒组件的入口端连接，所述两个出射狭缝管组件分别与所述分光盒组件的两个出口端连接。

所述入射狭缝管组件包括：入射通道管体，安装在所述入射通道管体头部的具有所述第一入光口、第二入光口的入射狭缝板，安装在所述入射通道管体尾部的入射光栏板，以及安装在所述入射通道管体的管腔中间的入射通道隔板。

所述每一出射狭缝管组件包括：出射通道管体，安装在出射通道管体头部的具有所述出光口的出射狭缝板，以及安装在所述出射通道管体尾部的出射光栏板。

所述第一出光口到所述第一弯晶的中心的距离的取值为150～180mm。

所述晶体座组件中的弯晶是约翰逊(Johansson)型或对数螺旋型。

所述出光口为刀口形狭缝，其缝长为18～25mm，缝宽为1～4mm。

所述入光口为刀口形狭缝，其缝长为18～25mm，缝宽为0.5～3mm。

所述出射狭缝管组件端部各连接有X射线探测器。

所述X射线探测器为流气式正比计数管、封闭式正比计数管、闪烁计数管或半导体探测器。

采用了上述技术方案后，本实用新型优点如下：