[实用新型]可调式自动落下测试装置无效
申请号: | 201020169671.8 | 申请日: | 2010-04-23 |
公开(公告)号: | CN201844915U | 公开(公告)日: | 2011-05-25 |
发明(设计)人: | 王军;林俊吉 | 申请(专利权)人: | 名硕电脑(苏州)有限公司;和硕联合科技股份有限公司 |
主分类号: | G01M7/08 | 分类号: | G01M7/08 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 宋冠群 |
地址: | 215011*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 调式 自动 落下 测试 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种测试装置,且特别涉及一种可调式自动落下测试装置。
背景技术
可携式电子产品具有让使用者随身携带的特性,而在使用中常常会发生跌落现象。因此,一般的可携式电子产品或零件在出厂前都要经过落下测试。
目前,通常使用人工手动跌落或者跌落试验机来进行落下测试。采用人工手动跌落的方式比较费人力,而且每次跌落的高度都由人来控制,难免存在一些偏差。传统的跌落试验机每次跌落以后也需要操作人员将产品再次放到初始位置以进行下一次跌落,导致测试效率难以提高。并且,一种跌落试验机通常只有一个测试高度,其仅能针对某种特定的产品进行测试。如此,则无法满足不同产品对不同测试高度的需求。
实用新型内容
本实用新型提供一种可调式自动落下测试装置,能够解决上述问题。
为解决所述技术问题,本发明的技术方案是:
本实用新型提供一种可调式自动落下测试装置,包括中空旋转本体、第一载板以及第二载板。中空旋转本体具有相互平行的第一内表面与第二内表面。第一载板耦接于第一内表面。第一载板将第一内表面所在平面分成第一部分与第二部分,第一载板与第一部分的夹角为锐角。至少部分的第一载板位于中空旋转本体内,且第一载板位于中空旋转本体内的长度为可调整。第二载板平行于第一载板并耦接于第二内表面。第二载板将第二内表面所在平面分成第三部分与第四部分,第二载板与第三部分的夹角为锐角。至少部分的第二载板位于中空旋转本体内,且第二载板位于中空旋转本体内的长度为可调整。第二载板在第一内表面的正投影位于第一部分,且第一载板不位于第二载板向第一内表面投影的路径上。
在本实用新型的一具体实施例中,中空旋转本体包括至少一块隔板,耦接于第一内表面与第二内表面之间以将中空旋转本体分隔成至少两个测试区。
在本实用新型的一具体实施例中,中空旋转本体具有多个第一固定部,第一载板与第二载板分别具有第二固定部,每一个第二固定部选择性地固定于这些第一固定部中的一个。
在本实用新型的一具体实施例中,可调式自动落下测试装置还包括控制单元,耦接于中空旋转本体以控制中空旋转本体旋转。
在本实用新型的一具体实施例中,控制单元包括马达与变频器,马达耦接于中空旋转本体,变频器耦接于马达以控制马达的旋转速度与旋转方向。
在本实用新型的一具体实施例中,可调式自动落下测试装置还包括感应器与待感应元件,待感应元件设置于中空旋转本体,感应器位于待感应元件的一侧以感应待感应元件并发出感应信号。
在本实用新型的一具体实施例中,可调式自动落下测试装置还包括计数器,耦接于感应器与控制单元,计数器接收感应信号以记录中空旋转本体的旋转次数,当中空旋转本体的旋转次数达到预设值时,计数器发出停止旋转信号至控制单元。
在本实用新型的一具体实施例中,可调式自动落下测试装置还包括指示元件,耦接于计数器,当中空旋转本体的旋转次数达到预设值时,计数器控制指示元件发出指示。
在本实用新型的一具体实施例中,待感应元件为磁铁,感应器为磁铁感应器。
在本实用新型的一具体实施例中,第一载板与所述第一部分的夹角以及第二载板与第三部分的夹角均为45度。
与现有技术相比,本发明的有益效果可以是:
本实用新型提供的可调式自动落下测试装置中,根据实际需要,可调整第一载板与第二载板位于中空旋转本体内的长度,进而改变测试高度,满足不同产品的测试要求。另外,随着中空旋转本体的旋转,产品可交替地由第一载板落下至第二内表面以及由第二载板落下至第一内表面,以自动进行重复落下测试。
为让本实用新型的所述和其它目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合附图,作详细说明如下。
附图说明
图1为本实用新型一较佳实施例的可调式自动落下测试装置的示意图。
图2为图1中的可调式自动落下测试装置沿A-A线的剖面图。
图3A及图3B为本实用新型一较佳实施例的第一载板与第二载板固定于不同测试高度的侧视图。
图4A~图4C为本实用新型一较佳实施例的控制单元的部分电路图。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于名硕电脑(苏州)有限公司;和硕联合科技股份有限公司,未经名硕电脑(苏州)有限公司;和硕联合科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201020169671.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:闭轨测试装置
- 下一篇:一种航天相机振动试验夹具