[实用新型]基于绝对编码相位细分的微距测量装置有效

专利信息
申请号: 201020173420.7 申请日: 2010-04-27
公开(公告)号: CN201653367U 公开(公告)日: 2010-11-24
发明(设计)人: 赵勇;雷新民 申请(专利权)人: 成都千嘉科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01D9/42;G09F9/00
代理公司: 成都科海专利事务有限责任公司 51202 代理人: 黄幼陵
地址: 610211 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 基于 绝对 编码 相位 细分 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种基于绝对编码相位细分的微距测量装置,其特征在于由绝对编码光栅尺(1)、CCD读数头(2)、数字处理器(3)和显示器(4)组成,

绝对编码光栅尺(1)安装在被测对象上,CCD读数头(2)与绝对编码光栅尺(1)套连,将获得的绝对编码光栅尺上的码道图形转化为数字信号后传送给数字处理器(3),

数字处理器(3)的输入端与CCD读数头(2)的输出端连接,数字处理器(3)的输出端与显示器(4)的输入端连接,将接收到的数字信号进行处理并将处理结果传送给显示器(4),显示器(4)将接收到的信号转换成文字或图形予以显示。

2.根据权利要求1所述的基于绝对编码相位细分的微距测量装置,其特征在于绝对编码光栅尺(1)的刻度单位为光的相位。

3.根据权利要求1或2所述的基于绝对编码相位细分的微距测量装置,其特征在于绝对编码光栅尺(1)为透射式绝对编码光栅尺。

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