[实用新型]一种多接口一体化测试治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及多接口测试治具技术领域，特别是一种多接口一体化测试治具。

背景技术

现目前线缆组件测试治具都为单一的接口治具，不同接口间的测试转换需更换不同的测试治具，从而影响了生产效率，且不同产品造成大量治具重复，降低了治具利用率，同时耗废大量材料，也造成管理成本的增加。

如图1-3所示，现有测试治具是单一的，测试完一种产品后，需更换测试治具，才能测试下一类产品。

发明内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的缺点，提供一种多接口一体化测试治具。

本发明主要是为了节约人工以及节省生产材料，为企业提升生产效率，本发明适用于多接口线束产品。

本发明目的是：通过对常用接口的统计，以及针对相关多接口线束产品设计，将测试接口一体化，提升生产效率，提升治具利用率，降低材料成本以及治具管理成本。

本实用新型的目的是对现有的测试技术进行整合，使原有的测试治具，通过确定常用的测试接口，利用一定的结构整合到一起，其降低了治具种类，提升了治具牢固性，提升了生产效率以及治具利用率，降低了材料成本以及治具管理成本。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种线缆测试治具通常就是将一连接器接口用多根电子线与HOUSING(一类插端子式的连接器)连接。因我们知道接口的种类繁多，那么随之治具的种类也就繁多。

通过用模具铣床将亚克力胶板铣成不同连接器的型状孔洞，将不同的连接器固定在同一胶板上，然后用电子线将连接器与HOUSING连接，成为一个整体的治具。

一种多接口一体化测试治具，由具有连接器的三层结构构成，三层结构分为上层、中层、下层，具有连接器的上层、具有连接器的中层、具有连接器的下层三层叠加后，根据连接器结构大小，将不同层亚克力胶板冲铣不同连接器孔洞，将已经用电子线与HOUSING端子连接好的连接器装入亚克力胶板孔洞内，再用镙丝将各层固定到一起。

所述具有连接器的上层结构是，DB15p(15针或脚)、DB28pin和8P8C 8根芯线的水晶头的排列位置，DB28pin排在一端，8P8C 8根芯线的水晶头排在中间，DB15p排在另一端。

所述DB28pin为一个，8P8C 8根芯线的水晶头为6个，DB15p为2个。

所述具有连接器的中层结构是，4.2018p(18针)、2.545p、DB9p和DB 15p的排列位置，4.20 18p排在一端，2.545p和DB 9p排在中间，DB15p排在另一端。

所述4.20 18p为一个，2.54 5p和DB 9p为各一个，DB15p为1个。

所述具有连接器的下层结构是，DB 26p、2.54 4p、2.54 4p、2.54 8p、2.54 14p、5.08 4p和5.08 4p的排列位置，DB 26p排在一端，2.54 4p、2.54 8p、2.54 14p、5.08 4p排在中间，另一个5.084p排在另一端。

所述DB 26p为一个，2.54 4p为2个，2.54 8p、2.54 14p为各一个，5.08 4p为2个。

所述具有连接器的上层结构、具有连接器的中层结构、具有连接器的下层结构，每层结构由上半部和下半部合在一起构成。

本实用新型有益之处是：构造简单，但结构性相对原有治具有加强，减少了治具种类，增加了治具结构稳定性。提升了生产效率以及治具利用率，降低了材料成本以及治具管理成本。

可将常规的以及经常用的连接器线缆组件任一测试接口放在一起，这样就减少了治具种类，同时其治具牢固性方面及使用寿命方面提升了50％以上，通常在测试不同产品时不需更换治具，节约了测试时间，提升了生产效率以及治具利用率，降低了材料成本以及治具管理成本。

附图说明

图1是现有的单接口(USB)测试治具正面图；

图2是现有的单接口(USB)测试治具侧面图；

图3是现有的单接口(USB)测试治具立体图；

图4是本实用新型多接口一体化测试治具正面图；

图5是本实用新型多接口一体化测试治具正剖面图；

图6为本实用新型多接口一体化测试治具正面、剖面图；

图7是本实用新型多接口一体化测试治具正面、剖面图；

图8是本实用新型多接口一体化测试治具立体图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步说明。

参照图4至图7，本实用新型多接口含DB 15p、DB 26p、8P8C、2.54/6p等。