[实用新型]联检卡与联检卡卡体有效
申请号: | 201020194857.9 | 申请日: | 2010-05-17 |
公开(公告)号: | CN201689099U | 公开(公告)日: | 2010-12-29 |
发明(设计)人: | 周晓强;罗娜;崔天星;施文芳;于长远;郭秀刚 | 申请(专利权)人: | 福州泰普生物科学有限公司 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00 |
代理公司: | 福州市鼓楼区博深专利代理事务所(普通合伙) 35214 | 代理人: | 林志峥;钟子敏 |
地址: | 350002 福建省福州市仓山*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 联检 卡卡体 | ||
1.一种联检卡卡体,所述联检卡卡体包括上卡件与下卡件,所述上卡件具有通孔,其特征在于,所述通孔具有由通孔边缘向下延伸的第一圈状凸起,第一圈状凸起下缘与所对应的下卡件相应位置的上表面之间具有反应膜或试纸厚度的间隙。
2.根据权利要求1所述的联检卡卡体,其特征在于,所述第一圈状凸起所对应的下卡件相应位置的上表面设有放置反应膜或试纸的容置槽,圈状凸起的下端位于容置槽内。
3.根据权利要求2所述的联检卡卡体,其特征在于,所述容置槽底面高于下卡件上表面,所述容置槽边沿具有向上延伸的第二圈状凸起,所述上卡件的下表面具有容纳第二圈状凸起嵌入的凹槽。
4.根据权利要求1至3任意一项所述的联检卡卡体,其特征在于,所述通孔在上卡件上表面的上端的截面积大于通孔下端的截面积。
5.一种联检卡,所述联检卡包括卡体与反应膜或试纸,所述卡体包括上卡件与下卡件,所述上卡件具有通孔,其特征在于,所述至少一个通孔具有由通孔边缘向下延伸的第一圈状凸起,所述反应膜或试纸位于上、下卡件之间,位于通孔对应的位置,第一圈状凸起下缘与所对应的下卡件相应位置的上表面压紧反应膜或试纸。
6.根据权利要求5所述的联检卡,其特征在于,所述第一圈状凸起所对应的下卡件相应位置的上表面设有放置反应膜或试纸的容置槽,圈状凸起的下端位于容置槽内。
7.根据权利要求6所述的联检卡,其特征在于,所述容置槽底面高于下卡件上表面,所述容置槽边沿具有向上延伸的第二圈状凸起,所述上卡件的下表面具有容纳第二圈状凸起嵌入的凹槽。
8.根据权利要求5至7任意一项所述的联检卡,其特征在于,所述通孔在上卡件上表面的上端的截面积大于通孔下端的截面积。
9.根据权利要求5至7任意一项所述的联检卡,其特征在于,所述联检卡还包括PH值试纸,所述PH值试纸位于上、下卡件之间,处于通孔对应的位置。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福州泰普生物科学有限公司,未经福州泰普生物科学有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201020194857.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:推杆机构
- 下一篇:一种调节磁致伸缩检测纵向静态磁场的装置