[实用新型]一种用于金属试样电阻率测量的试样架

说明书

技术领域

本实用新型涉及电阻率测量领域，特别涉及一种用于金属试样电阻率测量的试样架。

背景技术

电阻率是用来表示各种物质电阻特性的物理量。电阻是金属材料性能参数之一，测量的电阻数据，已广泛应用于相图、有序-无序转变、晶体中的位错、点阵缺陷、合金中的间隙离子、晶粒间界、金属表面时效以及晶体熔化等金属学课题。

对于各种材料的电阻率的测量，国家标准都有相应的规定，比如国家标准“电线电缆电性能试验方法第二部分金属导体材料电阻率试验”(GBT 3048.2-2007)、国家标准“电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法”(GBT 19289-2003)，这些标准通常规定了电阻率测量时试样的制备、测量的方法等，但是都没有明确具体的实现方式，特别是符合标准的试样，如何对试样进行固定，实现快速可靠地测量等，因此设计一个稳定可靠的试样架对金属材料的电阻率的测量有非常重要的意义。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种用于金属试样电阻率测量的试样架，方便对试样进行可靠地测量。

为实现上述目的，本实用新型的用于金属试样电阻率测量的试样架，包括一绝缘板台、两个支撑梁、两个倒T形的试样夹持刀和两个绝缘垫片，所述绝缘板台上开设有相互平行的多个条形槽孔；所述支撑梁的两端各设有一个支撑杆，所述支撑杆的上部与所述支撑梁固定连接，所述支撑杆的下部穿过所述条形槽孔，并可通过螺栓固定在所述绝缘板台上；所述试样夹持刀可通过锁紧螺栓固定在所述绝缘板台上，所述锁紧螺栓穿过所述条形槽孔，所述两个试样夹持刀分别位于所述两个支撑梁下方；所述两个支撑梁上都设有压紧螺栓，所述两个绝缘垫片分别位于所述两个支撑梁的压紧螺栓下方；待测试样的两端分别置于所述两个试样夹持刀上，并通过压紧螺栓推动所述绝缘垫片将所述待测试样固定。

本实用新型的用于金属试样电阻率测量的试样架，能快速低将待测试样固定，可以用于测量金属材料试样的电阻率，有利于对电阻率方便快速地测量，而且重复性、稳定性好。

附图说明

图1为本实用新型的用于金属试样电阻率测量的试样架的示意图；

图2为图1中试样架的A-A向剖视图；

图3为图2中试样架的侧视图。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的实施例进行具体说明：

如图1～3所示，本实用新型的用于金属试样电阻率测量的试样架包括一绝缘板台10、两个支撑梁20、两个倒T形的试样夹持刀30和两个绝缘垫片40。

所述绝缘板台10上开设有相互平行的多个条形槽孔11；

所述支撑梁20的两端各设有一个支撑杆21，所述支撑杆21的上部与所述支撑梁20固定连接，其固定方式可以采用焊接或螺栓连接，所述支撑杆21的下部穿过所述条形槽孔11，并可通过螺栓固定在所述绝缘板台10上；

所述试样夹持刀30可通过锁紧螺栓31固定在所述绝缘板台10上，所述锁紧螺栓31穿过所述条形槽孔11，所述两个试样夹持刀30分别位于所述两个支撑梁20下方；

所述两个支撑梁20上都设有压紧螺栓22，所述两个绝缘垫片40分别位于所述两个支撑梁20的压紧螺栓22下方；

待测试样50的两端分别置于所述两个试样夹持刀30上，并通过压紧螺栓22推动所述绝缘垫片40将所述待测试样50固定。通过旋紧压紧螺栓22，将待测试样50与所述试样夹持刀30紧密接触。

对于不同长度的待测试样50，可以通过移动所述试样夹持刀30相对所述条形槽孔11滑动来进行调整两个试样夹持刀30的距离，相应地将所述支撑杆21和支撑梁20也相对所述条形槽孔11滑动。

所述试样夹持刀30呈倒T形，有利于试样夹持刀30的平稳，所述试样夹持刀30也可以是两个L形的直角金属块组合而成。

在测量待测试样50的电阻率时，可以通过两根引线将两个试样夹持刀30与测量装置连接。测量电阻时可以采用常规的方法进行测量，测出两个所述试样夹持刀30之间的试样的电阻值，并进行至少两次重复测量，取平均值为测得的电阻值。将试样50尺寸及测得的电阻值代入下式，计算出试样的电阻率。

ρ＝Rbh/L

式中：ρ——电阻率，(μΩ·cm)

R——测得的电阻，(Ω)

b——试样宽度，(cm)

h——试样厚度，(cm)

L——测试长度即两个所述试样夹持刀30的顶部的距离，(cm)