[实用新型]一种条码图像校正装置及校正点获取装置有效
申请号: | 201020212639.3 | 申请日: | 2010-06-01 |
公开(公告)号: | CN201927053U | 公开(公告)日: | 2011-08-10 |
发明(设计)人: | 陈瑞琳;王文敏;刘荣生 | 申请(专利权)人: | 福建新大陆电脑股份有限公司 |
主分类号: | G06K9/32 | 分类号: | G06K9/32;G06K7/10 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 何青瓦;李庆波 |
地址: | 350015 福建省福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 条码 图像 校正 装置 获取 | ||
【技术领域】
本实用新型涉及一种图像校正装置,特别涉及一种条码图像校正装置及校正点获取装置。
【背景技术】
条码技术是在计算机技术与信息技术基础上发展起来的一门容编码、印刷、识别、数据采集和处理于一身的新兴技术。条码技术由于其识别快速、准确、可靠以及成本低等优点,被广泛应用于商业、图书管理、仓储、邮电、交通和工业控制等领域,并且势必在逐渐兴起的“物联网”应用中发挥重大的作用。
目前被广泛使用的条码包括一维条码及二维条码。一维条码又称线形条码是由平行排列的多个“条”和“空”单元组成,条形码信息靠条和空的不同宽度和位置来表达。一维条码只是在一个方向(一般是水平方向)表达信息,而在垂直方向则不表达任何信息,因此信息容量及空间利用率较低,并且在条码损坏后即无法识别。
二维条码是由按一定规律在二维方向上分布的黑白相间的特定几何图形组成,其可以在二维方向上表达信息,因此信息容量及空间利用率较高,并具有一定的校验功能。二维条码可以分为堆叠式二维条码和矩阵式二维条码。堆叠式二维条码是由多行短截的一维条码堆叠而成,代表性的堆叠式二维条码包括PDF417、Code 49、Code 16K等。矩阵式二维条码是由按预定规则分布于矩阵中的黑、白模块组成,代表性的矩阵式二维条码包括Codeone、Aztec、Date MatriX、QR码等。
现有技术中的二维条码识别过程中均需要对条码图像进行校正,而这种校正过程往往依赖于条码图像中的固定形式图案。以QR码为例,QR码内设置有探测图形和校正图形,通过探测图形和校正图形来确定条码图像校正系数,并利用变换公式对条码图像进行校正。因此,如果探测图形和校正图形受到污损,则难以进行校正。
【实用新型内容】
为了解决现有技术中条码图像校正过程中需首先对条码图像的标志性图形进行搜索的问题,本实用新型提供了一种条码图像校正装置及校正点获取装置。上述装置无需通过搜索标志性图形即可获取校正点,并可基于校正点进行条码图像校正。
本实用新型解决上述技术问题所采取的技术方案是提供一种条码图像校正装置,该条码图像校正装置包括:第一扫描模块;第二扫描模块,与第一扫描模块连接;选择模块,与第二扫描模块连接;坐标获取模块,与选择模块连接;校正模块,与坐标获取模块连接。
本实用新型解决上述技术问题所采取的技术方案是提供一种条码图像的校正点获取装置,该校正点获取装置包括:第一扫描模块;第二扫描模块,与第一扫描模块连接;选择模块,与第二扫描模块连接;坐标获取模块,与选择模块连接。
通过上述方法,可以在无需搜索条码图像的标志性图形的情况下获取用于条码图像校正的校正点,提供了在标志性图形污损情况下进行图像校正的可能。
【附图说明】
图1是根据本实用新型的条码图像采样装置的示意框图;
图2是根据本实用新型的条码图像采样过程中的映射方式的示意图;
图3是根据本实用新型的第一种校正点获取装置及条码图像校正装置的示意框图;
图4是根据本实用新型的第一种校正点获取过程中的子图像区域的示意图;
图5是根据本实用新型的第一种校正点获取过程中的动态模板的示意图;
图6是根据本实用新型的第二种校正点获取装置及条码图像校正装置的示意框图;
图7是根据本实用新型的第二种校正点获取过程中的二维条码图像的 局部放大图。
【具体实施方式】
本实用新型提供了一种基于多幅条码图像的条码图像采样装置,该条码图像采样装置通过融合两幅或两幅以上条码图像的像素信息来提高条码图像的清晰度。此外,该条码图像采样装置还可以进一步将至少两幅条码图像融合到超分辨率目标图像或亚分辨率目标图像中。
如图1-2所示,本实用新型提供了一种条码图像采样装置。本实用新型的条码图像采样装置包括:标志性位置获取单元、映射系数确定单元、映射单元及像素融合单元。
在本实施例中,标志性位置获取单元首先获得两幅条码图像A、B。条码图像A、B优选是在预定时间间隔内针对同一条码连续拍摄获得的,以使条码图像A、B之间的差异性相对较小,进而确保图像采样的准确性。在获得两幅条码图像A、B后,标志性位置获取单元分别对两幅条码图像A、B进行扫描,以分别获取可用于配准的标志性位置。例如,条码图像的转角点、探测图形、校正图形、定位图形以及用于条码校正的其他校正点等等。
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