[实用新型]具有扩充电源平面的探针卡及其扩充电源平面的结构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种探针卡，尤其涉及一种可以扩充电源平面的探针卡。

背景技术

探针卡是用来测试待测物，例如半导体集成电路(Integrated Circuit；IC)的一种设备，更准确的说，是半导体测试机与待测物之间的一个接口，是将测试机所产生的测试信号用以输入到待测物的接口，并且也是将待测物内产生的信号送回测试机的接口。

受限于半导体测试机的体积、价格等因素，通常半导体测试者仅能准备数量、款式有限的测试机，然而所需测试的待测物的数量、功能、款式远多于测试机，因此现在的半导体测试机除了在内部有测试程序的变化之外，还会在探针卡这个接口上进行改造，以便符合待测物的规格及其所需受测试的功能。

然而现今的待测物功能日趋多样而复杂，也因此探针卡上所需的改造也日益增加，然而，测试机与探针卡本身并无相应的变化，但就探针卡的改造而言，最普遍的方式就是在探针卡的电路板(PCB)上焊接电阻、电容、电感等电子组件，使得对待测物测试上所输入暨输出的信号可以做改变，以符合测试的需求。但是在电路板的有限面积上却没有更多的空间来置放更多的电子组件，故于探针卡的领域内需要一种突破有限的空间的装置以及突破空间限制的方法。再者，由于现今的半导体的操作频率增高，在狭窄的电路板面积上，时常有电源(power)信号不稳定的情形发生，需要来提高电源信号的稳定。而增加电容等电子组件的数量，可以提高探针卡对于快速提供电源的能力。以上都是关于电源完整性的分析，而由于这都关乎电路板的电源平面(power plane)的大小，因此，探针卡电路板的电源平面的扩充便是急待解决的问题。

此外，在待测物测试之前，会进行探针卡的电路板的电路设计，一般是以最多的测试情况去设计电路板，因此电源平面的数量相当多，而使用到的电源平面可称为测试用电源平面，但并非所有电路板上的电源平板都会使用到。若测试用电源平面数目等于总电源平面数目，代表测试用电源平面已经占用了电路板上所有的电源平面，不过如之前所述通常并不会将所有的电源平面耗尽，因此，通常会剩下一些用不到的电源平面，而这些“多余的”电源平面不但消耗了制造材料，且对于测试工作没有丝毫的帮助，而惯用技术并未设想如何应用这些闲置的电源平面，殊为可惜。

因此，申请人鉴于现有技术的缺失，提出本实用新型“具有扩充电源平面的探针卡及其扩充电源平面的结构”，用以改善上述现有技术手段的缺失。

发明内容

本实用新型的目的在于扩充电源平面，而扩充的目的在于原有的电源平面的面积太小不足以应付需要增设的电容等电子组件的数量，而增设电容的效果在于提高探针卡的快速提供电源的能力。此外，扩充电源平面，使电源平面的面积增加，可使得电源信号的稳定性更加提升。

为了达到上述目的，本实用新型提供一种具有受扩充之电源平面的探针卡，包括一探针卡，还包括多个电源平面，而各电源平面均具有一测试机端以及一探针端；一连接结构，同时与两个电源平面的探针端电抵接；以及一绝缘结构，将前述的两个电源平面中之一的测试机端予以覆盖。所述的探针卡，其中该连接结构为金属导线、金属片、或焊锡连接体。

如所述的探针卡，其中该绝缘结构是绝缘胶带或是一塑料片，黏贴于前述的两个电源平面中之一的测试机端。

如所述的探针卡，其中在该绝缘结构上暴露于外的一侧上更形成一保护层。

如所述的探针卡，其中在该保护层是以陶瓷或金属制造，而金属则选自铜、铝、或不锈钢。

为了达到上述目的，本实用新型又提供一种具有扩充电源平面的探针卡，包括一探针卡电路板，其中该电路板上包括一原电源平面及一延伸电源平面，各具有一探针端，其特征在于以一连接结构设置在该原电源平面的探针端及该延伸电源平面的探针端上，使该原电源平面的探针端与该延伸电源平面的探针端电连接。

如所述的探针卡，其中该原电源平面及该延伸电源平面各具有一测试机端，所述各测试机端是用以承接一测试机的弹簧针的抵接。

如所述的探针卡，其中该弹簧针与该延伸电源平面的测试机端之间，还包括一绝缘套。而该绝缘套可以设置在该弹簧针上且其材料是选自塑料、橡胶、玻璃纤维、或聚碳酸酯中的一种。

如所述的探针卡，其中该原电源平面及该延伸电源平面各具有一测试机端，该探针卡更包括一绝缘结构，将该延伸电源平面的测试机端予以覆盖。

如所述的探针卡，其中该绝缘结构是一种可插拔结构，插设于该延伸电源平面的测试机端上。

如所述的探针卡，其中该延伸电源平面的测试机端更形成一第二孔洞，用以安置呈可插拔结构的所述绝缘结构。