[实用新型]极化不敏感双频有源频率选择表面结构无效

专利信息
申请号: 201020238332.0 申请日: 2010-06-24
公开(公告)号: CN201868542U 公开(公告)日: 2011-06-15
发明(设计)人: 徐金平;吕凌;景伟杰 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H01P1/20 分类号: H01P1/20
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 柏尚春
地址: 210009 江苏*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 极化 敏感 双频 有源 频率 选择 表面 结构
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种具有双频特性的有源频率选择表面结构,该结构可以实现极化不敏感及宽入射角特性。 

背景技术

频率选择表面(FSS)作为隐身技术中的一项重要技术,自其概念被提出后便一直受到高度的重视,独特的电性能使其不仅在卫星通信领域得到广泛应用,而且在飞行器隐身方面也扮演着重要角色,广泛应用于电磁隐身、电磁兼容、军事通信、电子对抗等领域。 

无源频率选择表面研究比较多,应用也很广泛,有其独有的优点,如带宽比较宽等。但另一方面使用无源频率选择表面构成的设备其工作带宽、谐振频率等电磁特性均无法改变,因而在多变的电磁环境中无法快速适应外部电磁环境的变化而发挥其最大作用,有源频率选择表面的提出为克服这一缺陷提供了新的解决方案。 

发明内容

技术问题:本发明的目的是提供一种双频特性有源频率选择表面,加载馈电网络后整体结构通过一体化仿真设计,实现双频谐振特性,并具有极化不敏感的特点。 

技术方案:本发明的双频特性有源频率选择表面包括正面金属层,FSS缝隙,金属通孔,加载电容,介质板,背部馈电网络;在介质板的正面设有正面金属层,该正面金属层包括中部是一块方形的中间金属层,外围是一个方形的金属层外框,该方形的金属层外框与方形的中间金属层之间是FSS缝隙,方形的金属层外框与方形的中间金属层之间由加载电容连接;在介质板的背面设有背部馈电网络,背部馈电网络与正面金属层中的方形的中间金属层由金属通孔连接。 

所述的背部馈电网络由四组螺旋金属馈线均匀分布在背部四边对称位置,成中心对称排布,各中心处通过金属通孔连接到方形的中间金属层。 

为了实现对于极化方式改变不敏感的有源FSS结构,本文设计时主要从以下几个方面考虑:第一,令FSS谐振单元几何形状对称,第二,在进行电抗加载时,加载电抗同样必须关于中心对称,为了满足结构对极化方式的不敏感性,本发明采用四边对 称加载方式,第三,在实际应用中,加载电抗大小的改变需要外部提供偏置电压或电流,这便需要在原先有源FSS结构中加入偏置网络,并考虑偏置网络设计方案,而偏置网络由于由金属带栅组成,因而在入射波照射下会呈现电感效应,这一点在实际设计中必须加以考虑,需要对结构进行整体仿真分析。 

有益效果:本发明的特点是:加载馈电网络后整体结构通过一体化仿真设计,实现了双频谐振特性,并具有极化不敏感的特点。 

附图说明

下面结合附图,对本发明做出详细描述: 

图1是FSS正面结构示意图。 

图2为FSS背面结构示意图。 

图3是有源FSS反射特性受电容变化的影响示意图。 

图4是有源FSS传输特性受电容变化的影响示意图。 

图5是反射特性受极化方式的影响曲线。 

图6是传输特性受极化方式的影响曲线。 

图中有正面金属层1,中间金属层11,金属层外框12,FSS缝隙2,金属通孔3,加载电容4,介质板5,背部馈电网络6。 

具体实施方式

本发明的双频特性有源频率选择表面,包括介质板和位于介质板上的金属层频率选择表面结构,及介质板背面的馈电网络,本发明设计了一种极化不敏感有源FSS结构,并为之设计了馈电网络结构,该馈电结构中,四组螺旋金属馈线均匀分布在背部四边对称位置,成中心对称排布,各中心处通过金属通孔连接到正面金属表面。本发明采用的FSS结构为方环缝隙型FSS谐振单元,电抗加载采用四边对称加载方式,由于与电场方向平行的电抗加载不会对谐振特性产生影响,因而四边加载的效果与仅在与电场垂直方向加载电抗效果一致。这种对称加载方式起到了解决极化问题的作用,当极化方式由垂直极化变为水平极化时,与电场垂直方向上的电抗加载保持不变。本发明中有源频率选择表面的实现是通过加载变容管实现的,实际应用中,加载电抗大小的改变需要外部提供偏置电压或电流,这便需要在原先有源FSS结构中加入偏置网络,并考虑偏置网络设计方案,对结构进行整体仿真分析,本发明针对馈电网络一体化设计问题,提出了在频率选择表面背部加载螺旋馈电网络的新方法,该整体结构可以在X波段实现双频特性。 

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东南大学,未经东南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201020238332.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top