[实用新型]一种针对FPGA芯片的通用测试装置有效
| 申请号： | 201020241716.8 | 申请日： | 2010-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN201698002U | 公开（公告）日： | 2011-01-05 |
| 发明（设计）人： | 李杰;冯建科;张东 | 申请（专利权）人： | 北京自动测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人： | 陈曦 |
| 地址： | 100088*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 针对 fpga 芯片 通用 测试 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种针对FPGA芯片的通用测试装置，其特征在于：
所述通用测试装置包括主控制器、配置存储器、继电器矩阵、芯片固定卡座和转接卡座；其中，
所述主控制器一方面连接集成电路测试仪，另一方面分别连接所述配置存储器和所述继电器矩阵；
所述配置存储器连接在所述主控制器和所述继电器矩阵之间，用于存储各种FPGA芯片的配置文件；
所述继电器矩阵一方面连接集成电路测试仪，另一方面连接固定在所述芯片固定卡座上的被测FPGA芯片。
2.如权利要求1所述的针对FPGA芯片的通用测试装置，其特征在于：
所述通用测试装置中还包括JTAG接口，所述JTAG接口一方面连接所述主控制器，另一方面连接被测FPGA芯片。
3.如权利要求1所述的针对FPGA芯片的通用测试装置，其特征在于：
所述芯片固定卡座为QPF208卡座。
4.如权利要求1所述的针对FPGA芯片的通用测试装置，其特征在于：
所述继电器矩阵由所述主控制器进行控制，根据不同的配置需要把配置存取器或者集成电路测试仪的资源链接到被测FPGA芯片的不同管脚上。
5.如权利要求1所述的针对FPGA芯片的通用测试装置，其特征在于：
所述配置存储器为E2PROM或者FLASH。
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