[实用新型]一种用于精密高度测量的数显高度尺有效
申请号: | 201020247255.5 | 申请日: | 2010-07-03 |
公开(公告)号: | CN201697594U | 公开(公告)日: | 2011-01-05 |
发明(设计)人: | 吴峰山 | 申请(专利权)人: | 桂林安一量具有限公司 |
主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02;G01B3/22 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 541004 广西壮族*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 精密 高度 测量 | ||
1.一种用于精密高度测量的数显高度尺主要由划线爪、微动框夹持架组件、数显千分表、尺框、尺身和数显组件构成,划线爪与划线爪夹持框下内框滑动连接,尺框与尺身滑动连接,数显组件用螺钉与尺框正面连接,栅条与尺身的栅槽粘接,其特征是:弹簧置入尺框左内侧,轴套与尺框左上端面过盈配合连接,微动框夹持架组件与尺身滑动连接,微动框夹持架组件中的螺杆与轴套滑动连接并插入弹簧中。
2.根据权利要求1所述的一种用于精密高度测量的数显高度尺,它的特征是:数显千分表与微动框夹持架组件中的夹持杆滑动连接,螺杆的上端穿过微动框左侧的通孔与螺母螺纹连接,夹持杆的右段插入微动框后侧的方通孔滑动连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于精密高度测量的数显高度尺,它的特征是:改变数显于分表测量头的测量点,把夹持杆锁紧螺钉松开后,夹持杆往右移动10毫米即可。
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