[实用新型]循环测试时间控制装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及控制技术领域 ，更具体的说涉及一种用于测试系统的循环测试时间控制装置。

背景技术

目前电气器件对于性能的要求很高，需要制作自动测试台对其性能进行测试，在有些测试中，要使用时间循环测试，这就需要在测试中事先设定循环测试时间，例如，在对电机启动性能的测试中，就需要设定电机运转时间和电机停止时间，使电机在启动运转后运行到所设定的电机运转时间后，关闭电机电源，当电机关闭的时间到达所设定的电机停止时间后，又打开电机电源来启动电机，如此来反复循环测试电机的启动性能，为了达到循环测试的目的，一般使用时间继电器来设定时间，每一种测试过程的预设时间都需要一个时间继电器来设定，如果所需要设定的测试时间很多，就需要很多时间继电器来设定时间，并且每个测试台都需要单独配备大量的时间继电器，数量众多的时间继电器不仅体积大，占地方，而且价格较贵，容易出故障。中国专利号ZL200520123944.4实用新型专利所公布的一种温差电致冷组件致热交变测试装置，它由多个数字时间继电器与多组交流接触器组成的循环触发系统，由于使用了多个数字时间继电器造成了设备体积的增大，容易出故障等缺点。

实用新型内容

本实用新型提供了一种体积小，并且可以同时控制多台测试台的循环测试时间控制装置，解决了由于采用时间继电器作为循环测试时间控制装置而造成的体积大，价格贵，容易出故障，不利于多台测试台的集成控制的问题。

上述技术问题通过下述技术方案予以解决：一种循环测试时间控制装置，包括直流电源、主控模块、时间设定模块，所述时间设定模块输出信号到主控模块，所述的直流电源分别连接到主控模块和时间设定模块。时间设定模块可以预设多个时间数据，主控模块读取到时间设定模块的输出的时间信号后，发出相应的控制信号去控制与其相连的测试台电路的通断，以此来控制测试台的循环测试。

作为优选，时间设定模块包括时间控制芯片，时间控制芯片插接在芯片座上，芯片座引脚焊接在印刷电路板上。这样在设定时间控制芯片的数据时可以将其先设定好，再插入芯片座，也可以用串口线将时间设定模块与电脑相连，通过调试软件，电脑可以将要设定的数据通过串口线发送到时间控制芯片中。

作为优选，主控模块包括单片机及外围电路。单片机体积小，功能强，有很多输入输出接口，可以通过编程来同时控制多台测试台电路的通断。

作为优选，主控模块上还连接有一启动开关。此启动开关发出信号到主控模块，主控模块接收到此信号，发出控制信号来控制测试台电路的通断。 

由于采用了上述技术方案，所以本实用新型具有下述优点：体积小，价格便宜，故障率低，并且可以同时控制多台测试台进行循环测试，提高了测试人员的工作效率。

附图说明：

图1为本实用新型的电路原理框图。

图2为本实用新型实施例的一种电路原理图。

图3为本实用新型实施例的一种电路板结构图。

在图中：1. 直流电源，2. 启动开关，3. 主控模块，4. 时间设定模块，5. 控制信号，11. 单片机，12. 时间控制芯片，13. 晶振电路，21. 端子排，22. 芯片座，23. 电路板。

具体实施方式

   下面结合实施例和附图对本实用新型作进一步的说明：如图1所示，本实用新型的循环测试时间控制装置包括直流电源1、启动开关2、主控模块3和时间设定模块4，直流电源1提供直流电到主控模块3和时间设定模块4，启动开关2提供一个开关信号到主控模块3，时间设定模块4提供时间信号到主控模块3，主控模块3发出控制信号5到所连接的测试台的测试电路。

   图2为本实用新型的一个实施例的电路原理图，单片机11具有24个输入输出接口，每个接口可以作输入口，也可以作输出口，在这里使用了10个接口作输入口，用来和时间控制芯片12的输出口相连接，使用10个接口作输出口，用于发出信号去控制测试台，启动开关2一端接单片机11的一个输入接口，另一端接地，当启动开关2闭合，发出一个低电平信号到单片机11。此外单片机11还连接有一个晶振电路13，这里单片11及其外围的晶振电路13就构成了如图1所示的主控模块3。