[实用新型]一种X射线探测装置有效

专利信息
申请号: 201020264172.7 申请日: 2010-07-20
公开(公告)号: CN201775634U 公开(公告)日: 2011-03-30
发明(设计)人: 付东山;盛晔 申请(专利权)人: 付东山;盛晔
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 苏州华博知识产权代理有限公司 32232 代理人: 傅靖
地址: 100039 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 射线 探测 装置
【权利要求书】:

1.一种x射线探测装置,其特征在于,包括x射线源、探测器盒、支架以及底座,x射线源位于支架的一端,支架的另一端可以固定在底座或者地面上,探测器盒位于底座上,并且与x射线源的射线口相对。

2.根据权利要求1所述的x射线探测装置,其特征在于,所述x射线源与支架采用固定连接;探测器盒与底座采用可以调节角度的活动连接方式连接。

3.根据权利要求1所述的x射线探测装置,其特征在于,所述探测器盒与底座采用固定连接;x射线源与支架采用可以调节角度的活动连接方式连接。

4.根据权利要求1所述的x射线探测装置,其特征在于,所述x射线源、探测器盒、支架都为2个。

5.根据权利要求1所述的x射线探测装置,其特征在于,所述底座上有可以校准x射线源与探测器盒角度的校准装置。

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