[实用新型]一种X射线探测装置有效
申请号: | 201020264172.7 | 申请日: | 2010-07-20 |
公开(公告)号: | CN201775634U | 公开(公告)日: | 2011-03-30 |
发明(设计)人: | 付东山;盛晔 | 申请(专利权)人: | 付东山;盛晔 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 苏州华博知识产权代理有限公司 32232 | 代理人: | 傅靖 |
地址: | 100039 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 射线 探测 装置 | ||
1.一种x射线探测装置,其特征在于,包括x射线源、探测器盒、支架以及底座,x射线源位于支架的一端,支架的另一端可以固定在底座或者地面上,探测器盒位于底座上,并且与x射线源的射线口相对。
2.根据权利要求1所述的x射线探测装置,其特征在于,所述x射线源与支架采用固定连接;探测器盒与底座采用可以调节角度的活动连接方式连接。
3.根据权利要求1所述的x射线探测装置,其特征在于,所述探测器盒与底座采用固定连接;x射线源与支架采用可以调节角度的活动连接方式连接。
4.根据权利要求1所述的x射线探测装置,其特征在于,所述x射线源、探测器盒、支架都为2个。
5.根据权利要求1所述的x射线探测装置,其特征在于,所述底座上有可以校准x射线源与探测器盒角度的校准装置。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于付东山;盛晔,未经付东山;盛晔许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201020264172.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。