[实用新型]硅圆锭斜面测试仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种硅圆锭斜面测试仪。

背景技术

硅圆锭端面为斜面的情况使硅圆锭切割存在着一定的质量隐患，如切片过程中会因斜面引发跳线、断线等故障，故需要在切片前针对硅圆锭端面进行检测。通常的做法是采用卷尺测量圆锭的长度，三次不同的测量结果的差值为圆锭的斜面，这种测量方法存在误差，比如圆锭的截面为平行四边行时，这种测量方法测量不出。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：设计一种硅圆锭斜面测试仪，可方便准确地得知硅圆锭的断面是否为斜面。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种硅圆锭斜面测试仪，包括平台、圆锭夹具和晶托，在平台上设置导轨，晶托的平面与导轨垂直，圆锭夹具通过夹具滑座设置在导轨上，晶托通过晶托滑座设置在导轨上，晶托具有两个，分别位于圆锭夹具的两侧。

圆锭夹具具有为左右两个。

本实用新型的有益效果是：本测试仪能以圆锭的中心线为基准，即使圆锭截面为平行四边形也可测量出来，可通过目视或塞尺测量，测量方便。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明；

图1是本实用新型的结构示意图；

其中：1.平台，1-1.导轨，2.圆锭夹具，2-1.夹具滑座，3.晶托，3-1.晶托滑座，4.硅圆锭。

具体实施方式

如图1所示，一种硅圆锭斜面测试仪，包括平台1、圆锭夹具2和晶托3，在平台1上设置导轨1-1，晶托2的平面与导轨1-1垂直，圆锭夹具2通过夹具滑座2-1设置在导轨1-1上，晶托3通过晶托滑座3-1设置在导轨1-1上，晶托3具有两个，分别位于圆锭夹具2的两侧。圆锭夹具2具有为左右两个。将待检测的硅圆锭4夹在圆锭夹具2上固定中心线后，将硅圆锭4两端面接触到晶托3的平面，目视检查是否有间隙，也可用塞尺测量，读数即为硅圆锭4的斜面的测量值。