[实用新型]可调式射频同轴电缆测试接头

说明书

技术领域

本实用新型涉及在对射频同轴电缆进行性能测试时需要使用的测试接头。

背景技术

在射频同轴电缆(RF缆)测试过程中，测试接头与RF缆对接时两个阻抗匹配不一致，将对电缆电压驻波比(VSWR)测试结果有很大的影响。具体原因为测试仪器(网络分析仪)将射频信号输入到测试接头以及同轴电缆中，由于射频信号沿着电缆长度方向上的阻抗发生变化，使其信号沿着电缆输入的方向反射回来，造成测试VSWR数据偏高。

目前市场上生产RF缆测试接头的厂家很多，电缆生产厂家的每一个批次的电缆的阻抗也不能完全一致，在电缆测试过程中就会产生测试接头和电缆的阻抗不匹配，产生反射，造成测试数据不准确。现有的测试方法是测试人员根据测试仪器上显示图形数据的大小，用工具反复松紧测试接头连接端，直至达到理想数据，这种测试方法测试时间长，劳动强度大，因测试被反复松紧使用寿命的降低，增加测试的成本。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种特性阻抗可调节从而保证电缆测试结果可靠的测试接头。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种可调式射频同轴电缆测试接头，包括插座、与插座一端部相同轴连接的用于与测试引线相连接的引线连接端、与插座另一端相同轴连接用于与待测射频同轴电缆相连接的电缆连接端，所述的插座包括位于中心的内导体、外导体、连接所述的内导体与外导体的绝缘子，所述的内导体与外导体之间具有体积大小可调节从而改变接头特性阻抗的间隙。

在根据上述技术方案所优选实施的方式中，所述的外导体径向开设有与所述间隙相连通的螺纹孔，所述的螺纹孔内设置有伸入至间隙内以调节间隙大小的调节螺丝。

进一步地，所述的外导体包括细径部、与细径部一体连接的粗径部，所述的绝缘子设置在细径部与内导体之间，所述的螺纹孔开设在粗径部上。

所述的引线连接端套接在细径部外周，所述的电缆连接端嵌设在所述的粗径部内。

由于上述技术方案运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：由于在测试接头插座的内外导体之间具有体积大小可调节的间隙，也就是说接头中间隙含空气量可改变，从而使绝缘介质损耗常数有所改变，在测试时，将测试接头一端与测试仪器相连接，一端与射频同轴电缆相连接，根据测试仪器(网络分析仪)上电压驻波比图形来判定测试接头与测试电缆匹配情况，调节接头间隙大小，使得接头与测试电缆的阻抗匹配，这样测试图形就能反映出待测RF缆本身的电压驻波比性能，方便实用。

附图说明

附图1为本实用新型同轴电缆测试接头结构主视图；

附图2为本实用新型同轴电缆测试接头与电缆连接的横截面示意图；

附图3为本实用新型同轴电缆测试接头使用连接示意图；

附图4为附图3中A处放大图；

其中：1、插座；11、内导体；12、外导体；121、细径部；122、粗径部；13、绝缘子；14、间隙；2、引线连接端；3、电缆连接端；4、螺纹孔；5、调节螺丝；10、电缆；20、测试仪；30、测试引线；

具体实施方式

下面将结合附图，对本实用新型优选的实施例进行详细说明：

参见图1、图2及图4所示的同轴电缆测试接头，主要由位于中间的插座1、与插座1两端相同轴连接的引线连接端2以及电缆连接端3组成。其中，插座1包括沿轴心线方向设置的内导体11、外导体12以及设置在内导体11与外导体12之间的绝缘子13，同时，在内导体11与外导体12之间还留有一定的间隙14。，见图2。本实施例中，外导体12包括细径部121、与细径部121一体连接的粗径部122，所述的绝缘子13设置在细径部121与内导体12之间，所述的引线连接端2套接在细径部121外周，所述的电缆连接端3嵌设在粗径部122内。

在外导体12的粗径部122上开设有一条与间隙14相连通的螺纹孔4，在螺纹孔4内设置有螺丝5，通过调节螺丝5伸入至间隙14中的距离，可使得间隙内的空气量有所改变，从而可使得接头的绝缘介质损耗常数发生改变。

具体使用如图3所示，将测试引线30一端与测试仪器相连，一端与接头的引线连接端2相连，将被测同轴电缆固定在接头的电缆连接端3内，这时测试仪器1的显示屏上显示出电压驻波比图形并有最高值显示，然后轻微旋动调节螺丝5，通过调节螺丝5来改变图2中调节螺丝的伸入距离X，直至测试图形达到最好的状态，就可以停止调节，此时电压驻波比性能就是电缆本身水平。采用本实施例的测试接头避免了现有测试接头被反复松紧的缺陷，从而提高了接头的使用寿命，降低了测试成本和劳动强度。

上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围，如间隙的调节不限于用螺丝调节的方式，凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。