[实用新型]64线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，是能对64线0.5mm节距陶瓷四边引线扁平封装元器件可靠性进行高温老化筛选试验和性能测试的插座；本实用新型属电子信息技术微电子元器件可靠性领域。

背景技术

目前，在我国电子元器件可靠性技术领域，公知的国内一般老化试验插座的本体材料大都采用的是非耐高温普通塑料，在对被测器件进行测试时，老化工作温度仅为-25℃～+85℃，工作时间短、接触件节距宽、引线根数少、结构简单，存在着与被测器件之间接触电阻大、老化温度低、一致性差和使用寿命短的重大缺陷，不能满足对器件的质量筛选和性能指标的测试要求，容易引发工程质量事故。国内在可靠性技术领域内特别是对配套于神舟飞船、大推力火箭、卫星、核潜艇、洲际导弹及其它国防军工、航天、航空、航海、通信等重点国防尖端武器装备等重大项目的集成电路、微电子元器件，尚无高低温老化可靠性试验和测试的专用测试装置，所使用的测试插座大量依赖国外进口，价格极为昂贵，国家每年要花费大笔外汇进口产品，订货周期较长，特殊规格的产品无法订货，部分重要产品还因禁运而影响我国军用电子元器件研发生产进度。

发明内容

为克服现有老化试验插座在接触电阻、耐高温和一致性以及使用寿命方面的不足，本实用新型提供一种新型的专用于集成电路、微电子元器件在线通电状态下进行高低温老化、测试、筛选及可靠性试验的64线节距仅为0.5mm的陶瓷四边引线扁平封装元器件插座。该插座不仅能将老化工作温度范围从-25℃～+85℃扩展至-55℃～+150℃，一次老化连续工作时间长达1500h(150℃)以上，插拔寿命8000次以上，而且在对被测试器件进行高温老化试验和性能测试过程中，具有引线根数多、接触件节距细、接触电阻小、一致性好、低插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。

本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是：按照64线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即插座体、接触件和定位装置。插座体主要由座、盖和钩组成，选用耐高温型工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体，接触件由轴向对称的64线、0.5mm细节距的镀金簧片纵向排列组成，与被试器件引出线相对应，分别安装于座的4面凹槽中。插座的锁紧装置由座、盖、钩、压块和定位 板组成，插座体的座、盖、钩及压块和定位板可起压紧装置作用，当被试器件放在定位板上，钩受力向下翻转与座啮合时，使盖及安装在盖上的压块产生位移，由于压块向下运动，被试器件压紧接触件，而定位板四个脚上有压簧，有很好的弹性，促使插座达到更好的压紧效果。该实用新型在同一系列中属于细节距结构，接触件的节距仅有0.5mm。采用与被试器件引出线相对应的方式，并由中心对称、四面排列形式组成。该实用新型还采用由定位板和压块组成定位装置的新样式，被试器件的引线与接触件相对应并安装在定位板上。通电后进行高温老化试验和性能测试。这种翻盖式结构设计成零插拔力式的结构，可避免接触件插拔时磨损电镀层，影响电接触性能，彻底解决了在高温老化试验和性能测试过程中的接触电阻大、耐环境弱、一致性差和机械寿命不长的技术难点，还可以满足被试器件不同引线的要求。

本实用新型的有益效果是：该实用新型可以满足军民通用64线和其它同类陶瓷四边引线扁平封装元器件高温老化试验和性能测试；本实用新型的研制成功填补了国内空白，替代进口，为国家节约了外汇，为用户节约了成本，可以获得较大的经济效益和社会效益。

附图说明

下面结合附图和实施方式对本实用新型作进一步说明。

图1是本实用新型的外形结构纵剖面构造图。

图2是本实用新型外型结构俯视图。

图1：1中脚接触件(簧片) 2座 3前脚接触件(簧片) 4定位板 5压簧6后脚接触件(簧片) 7轴 8扭簧 9盖 10压块 11轴 12压簧 13钩

具体实施方式

在图1中，第一步：将接触件即前脚簧片(3)中脚簧片(1)和后脚簧片(6)按与被试器件引出线相对应的结构插入座(2)中；第二步：将钩(13)、压簧(12)、轴(7)装入盖(9)内；第三步：将压簧(5)和定位板(4)装入座(2)内；第四步：将压块(10)、轴(11)装入盖(9)内；第五步：再将装好的盖(9)、轴(7)和扭簧(8)装入座(2)内。

该方案中，插座体用于被试器件的自动压紧，当钩受力向下翻转与座啮合时，被试器件自动压紧接触件；接触件由镀金簧片按与被试器件引出线相对应、自动压紧和零插拔力结构安装于插座体的座中；还采用由定位板和压块进行定位的新样式，确保被试器件放入时的引线与接触件相对应并；定位块下的压簧可以确保接触件受力均匀。