[实用新型]56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座无效

专利信息
申请号: 201020281967.9 申请日: 2010-08-02
公开(公告)号: CN201918561U 公开(公告)日: 2011-08-03
发明(设计)人: 曹宏国 申请(专利权)人: 曹宏国
主分类号: H01R13/46 分类号: H01R13/46;H01R13/42;G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 313119 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 56 1.27 陶瓷 四边 引线 扁平封装 器件 老化 测试 插座
【权利要求书】:

1.一种56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座,其特征是:它是由插座体和接触件两个部分统一组成,插座体由座(2)、盖(6)和钩(8)组成,用于被试器件的自动压紧,插座体选用耐高温型工程塑料,经高温注塑成型工艺技术制造而成,接触件与被试器件引出线相对应并安装于插座体的座中。

2.根据权利要求1所述的56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座,其特征是:插座体和接触件是一个统一整体,接触件(1)、(3)由两边对称的56线、1.27mm细节距的镀金前后脚接触件交替排列组成,分别安装于座(2)的4面凹槽中。

3.根据权利要求1所述的56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座,其特征是:当钩(8)受力与座(2)啮合时,盖(6)向下运动,使被试器件压紧接触件。这种翻盖式结构把接触件(1)、(3)设计成自动扣紧锁式、零插拔力结构。 

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