[实用新型]一种单发次超短激光脉冲对比度测量装置

说明书

技术领域

本实用新型属于超短脉冲测试技术领域，具体涉及一种单发次超短激光脉冲对比度测量装置。

背景技术

对于单次运行的超强激光装置的对比度测试，必须要采用单发次实时测量。名称为“高功率超短激光脉冲对比度测量装置”的中国实用新型专利（专利号：ZL200720077677）可以测量单次超短激光脉冲对比度，其将倍频光经平板玻璃后分成具有一定时间延迟、强度减弱的几束倍频光并行地与基频光通过凸透镜进入BBO混频晶体，产生三次谐波信号，这样只能获得单发次激光脉冲对比度测量的多个点信息。

发明内容

为了克服现有的超短激光脉冲对比度测量方法中的不足，本实用新型提供一种单发次超短激光脉冲对比度测量装置。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：被测的平行激光束经过半透半反镜后将光变成透射光和反射光，透射光束依次经过第一延迟机构和第一反射镜出射基频光，反射光束经过第二反射镜、倍频晶体、第一滤光片和半波片后变成二倍频光，基频光和二倍频光以位相匹配角入射到第一和频晶体上产生三阶自相关信号，三阶自相关信号经第一刀口遮挡、第一衰减片、第一柱面透镜和第二滤波片后进入第一CCD，经过第一和频晶体出射的基频光依次经过第四反射镜、第二延迟机构、第五反射镜，经过第一和频晶体出射的二倍频光经过第三反射镜反射，基频光和二倍频光以位相匹配角入射到第二和频晶体上产生三阶自相关信号，三阶自相关信号经第二刀口遮挡、第二衰减片、第二柱面透镜和第三滤波片后进入第二CCD，采用两个延迟机构对三阶自相关信号进行串行测量，得到两个不同延迟区域三阶自相关信号强度分布信息。

采用两个延迟机构对三阶自相关信号进行串行测量，避免了并行测量中强度不足的缺点，测得三阶自相关信号主峰或脉冲前沿等重点测试区域强度分布，得到超短脉冲对比度信息。

本实用新型的有益效果是，采用两个延迟机构对三阶自相关信号进行串行测量，测得三阶自相关信号主峰或脉冲前沿等重点测试区域强度连续分布而得到超短脉冲对比度信息，光路调节简单直观。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明，但不应以此限制本实用新型的保护范围。

图1是本实用新型的装置示意图。

图中，1.半透半反镜    2.第一延迟机构     3.第一反射镜     4.第二反射镜     5.倍频晶体    6.第一滤光片     7.半波片     8. 第一和频晶体     9.第一刀口     10.第一衰减片     11.第一柱面透镜     12.第二滤光片     13.第一CCD    14.第三反射镜     15.第四反射镜     16.第二延迟机构     17.第五反射镜     18.第二和频晶体     19.第二刀口     20.第二衰减片     21.第二柱面透镜     22.第三滤光片     23.第二CCD。

具体实施方式