[实用新型]微通道芯片检测装置

权利要求书

1.一种微通道芯片检测装置，其特征在于包括检测装置本体、1个以上检测芯片单元和磁体，所述检测芯片单元和所述磁体设于所述检测装置本体，所述磁体设于所述检测芯片单元的一端。

2.根据权利要求1所述的微通道芯片检测装置，其特征在于2个以上所述检测芯片单元位于磁体的同侧。

3.根据权利要求1所述的微通道芯片检测装置，其特征在于2个以上所述检测芯片单元位于磁体的两侧。

4.一种微通道芯片检测装置，其特征在于包括检测装置本体、1个以上检测芯片单元和磁体；所述检测芯片单元和所述磁体设于所述检测装置本体；

所述检测芯片单元，包括微通道主体、样品容器、检测槽和对照槽，且互相连通；

所述磁体设于所述微通道主体一端。

5.根据权利要求4所述的微通道芯片检测装置，其特征在于所述检测芯片单元包括1个所述样品容器、1个以上的所述微通道主体、1个以上的所述检测槽和1个以上的所述对照槽，且至少有1个所述微通道主体的内腔、1个所述检测槽的内腔和1个所述对照槽的内腔与所述样品容器连通。

6.根据权利要求4所述的微通道芯片检测装置，其特征在于所述微通道主体内腔的平均径宽为20-200μm。

7.根据权利要求4所述的微通道芯片检测装置，其特征在于所述微通道主体内腔的平均径宽为50-180μm。

8.根据权利要求4所述的微通道芯片检测装置，其特征在于所述微通道主体内腔的平均径宽为70-150μm。

9.根据权利要求4所述的微通道芯片检测装置，其特征在于所述微通道主体内腔的平均径宽选自于70μm、75μm、80μm、75μm、90μm、95μm、100μm、105μm、110μm、115μm、120μm、125μm、130μm、135μm、140μm、145μm或150μm。