[实用新型]自动插拔内存测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置，尤其涉及一种自动插拔内存以对内存进行测试的装置。

背景技术

DIMM(Dual-Inline-Memory-Modules，即双列直插式存储模块)在测试过程中，一般采用手动插拔，作业员测试前先将DIMM内存条插在主板对应的插槽上再放到在BFT治具上进行测试。

上述采用手动操作进行测试对测试效率有很大影响，同时手动操作对DIMM使用寿命存在很大影响，相对其它PCI测试设备，USB接口或PCI接口等其它设备都附设在测试机台上实现了自动插拔功能，但DIMM结构性特殊，目前尚未附设在测试机台上进行自动插拔测试。

发明内容

鉴于上述问题，本实用新型提供了一种自动插拔内存测试装置。

为了达到上述目的，本实用新型采用了如下的技术方案：一种自动插拔内存测试装置，其主要适用于功能测试治具中，该功能测试治具包括上盖及与该上盖枢接的盒体，且该盒体内放置有待测试主板，该测试装置主要包括固定结构，其主要包括固定座及二固定块，该固定块分别设置于该固定座两末端且将该固定座固定于该上盖上；以及若干转接板，其对应穿出该固定座，该转接板于该上盖盖合于该盒体上时，该转接板穿出该固定座的一侧缘的金手指分别插接于盒体内放置的待测试主板的内存槽上，其另一侧缘设有的金手指分别插接有内存条。

较佳的，本实用新型提供了一种自动插拔内存测试装置，其中，该上盖与该盒体相对的一侧面设置有若干个弹簧顶针。

较佳的，本实用新型提供了一种自动插拔内存测试装置，其中，该功能测试治具设有汽缸，汽缸的动力令使得上盖与盒体相互打开或闭合。

相较于先前技术，本实用新型提供了一种自动插拔内存测试装置，其中，将内存模块化后固定在功能测试治具的上盖上，当上盖闭合时，自动插拔内存测试装置上的转接板对应插入待测试主板的内存槽中，待测试完成后，当上盖打开，在弹簧顶针的作用力下，把转接板从待测试主板的内存槽中取出。在测试过程中采用自动插拔测试，提高测试效率，有效提升使用寿命，降低测试成本，减少了内存的金手指因人为操作不规范造成金手指短路，从而提高测试产品良率。

附图说明

图1为功能测试治具的示意图

图2为自动插拔内存测试装置的示意图

图3为自动插拔内存测试装置固定于功能测试治具的示意图

具体实施方式

请参照图1至图3所示。本实用新型提供了一种自动插拔内存测试装置10，其主要适用于功能测试治具(图中未示)中，该功能测试治具包括上盖及与该上盖一端枢接结合的盒体，该上盖与该盒体借由枢接的一端相互开合，且该盒体内放置有待测试主板。

其中，所述自动插拔内存测试装置10主要包括固定结构及若干转接板101，所述固定结构主要包括固定座102及二固定块103，该固定座102两侧面分别设置有定位孔1021，用以利用该定位孔1021将对应穿出该固定座102的转接板101固定于该固定座102上，以形成转接板模组。

此外，该转接板模组于该上盖盖合于该盒体上时，该转接板101一侧缘设有的金手指分别插接于盒体内放置的待测试主板的内存槽上，其另一侧缘设有的金手指分别插接有内存条104，且该内存条104两末端分别通过设置于该固定座102上的耳朵105固定于该固定座102上。

又，所述固定座102两末端分别固定于固定块103上，以通过固定块103将转接板模组一并固定于该功能测试治具的上盖上。

其中，该上盖与该盒体相对的一侧面11上设置有若干个弹簧顶针111，当上盖闭合时，固定于该上盖上的转接板对应插入待测试主板的内存槽中，待测试完成后，当上盖打开，在弹簧顶针111的作用力下，转接板从待测试主板的内存槽中拔出。

较佳的，本实用新型所述的自动插拔内存测试装置10主要适用的功能测试治具内可设置有汽缸，该汽缸用以提供动力，以控制上盖与盒体相互打开或闭合。