[实用新型]IC集成电路外观检测流道装置

说明书

(一)技术领域

本实用新型涉及一种IC集成电路外观检测流道装置。适用于IC集成电路封装产品(如SOP系列)等的外形外观检测。

(二)背景技术

传统的IC集成电路外观检测流道装置是采用金属轨道控制产品的流动方向，这种结构附带的零件比较多，比较复杂，加工成本也比较高，而且由于金属轨道的不透明，必须开设有检查窗口，通过步进分料实现单颗产品的检测，因而也降低了设备的产能，这就影响了整体运行的速度，降低了工作效率。

(三)发明内容

本实用新型的目的在于克服上述不足，提供一种结构简单、能成倍提高产能的IC集成电路外观检测流道装置。

本实用新型的目的是这样实现的：一种IC集成电路外观检测流道装置，包括玻璃管流道、基座和支持架，所述玻璃管流道固定在基座上，基座固定在支持架上。

IC集成电路系列产品从料管中整管进入玻璃管流道的流道中进行视觉检测。本实用新型的有益效果是：

本实用新型流道装置采用玻璃管流道结构，以方便对流道中产品一次进行多颗或整管检测，该装置无需设检查窗口。因此本实用新型IC集成电路外观检测流道装置结构简单，能成倍提高产能。

(四)附图说明

图1为本实用新型IC集成电路外观检测流道装置的立体结构图。

图2为图1的分解图。

图中附图标记：

第一螺丝1(4件)、压板2(4件)、玻璃管流道3、第二螺丝4、基座5、支持架6。

(五)具体实施方式

参见图1～2，图1为本实用新型IC集成电路外观检测流道装置的立体结构图。图2为图1的分解图。由图1和图2可以看出，本实用新型IC集成电路外观检测流道装置，包括玻璃管流道3、基座5和支持架6，玻璃管流道3用压板2和第一螺丝1固定在基座5上，基座5用第二螺丝4固定在支持架6上。

所述玻璃管流道3截面形状与待检测产品的截面形状相一致。