[实用新型]一种平面型屏蔽材料屏蔽效能的法兰同轴测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及微波射频技术领域，更具体地说，本发明涉及一种改进的电磁屏蔽材料屏蔽效能的测试装置。

背景技术

人们生活在充斥着电磁辐射的空间里，随时受到电磁辐射的干扰与影响，电磁辐射已成为继水污染、大气污染、噪声污染之后的第四大污染，成为一种危害人们身体健康的“隐形杀手”。电磁辐射对人体健康方面的危害主要分为热效应、非热效应和累积效应。如何防止电磁辐射对人的危害成为一个热门的探讨话题。各种防电磁辐射屏蔽材料应运而生，然而市场上生产的屏蔽材料良莠不齐，滥竽充数，如何高效检测出它们的屏蔽效能(shieldingeffectiveness)成为一个重要问题。根据电磁场辐射区域划分，平面材料屏蔽效能的测试方法主要分为远场法、近场法和屏蔽室法。

其中，远场法中基于ASTM D-4935法兰同轴法因具有坚实的理论基础而被广泛使用，同时测试速度快且精确，可重复性好。主要缺点是夹具测试的的频率范围窄，300MHz-1.5GHz的带宽对当前电气设备和系统来说是不够的。当测试频率低于频率下限时，不能产生足够的位移电流；高于频率上限时，产生高阶模，增大测量误差。在SJ20524中同样存在频率范围窄的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种频率上限大于1.5GHz的法兰同轴测试装置，针对ASTMD4935和SJ20524法兰同轴传输线法频带窄，不能准确测量高频段范围，本实用新型对法兰同轴测试装置的结构作了改进，以提高测量带宽范围。将频率上限提高到3GHz，满足了现代设备高频段检测的需求。

根据本实用新型的一个方面，提供了一种平面型屏蔽材料屏蔽效能的法兰同轴测试装置，本装置为左右对称两部分组成，包括带法兰盘的N型同轴接口(1，13)、法兰同轴测试夹具(3)、支撑介质(4)、内导体(12)、内导体压圈(5)、外导体(10)、外导体压圈(6)，所述带法兰盘的N型同轴接口包括阴头接口(1)和阳头接口(13)，一端接口连接信号发生器，另一端接口连接信号接收机，所述带法兰的测试夹具的对称两部分通过尼龙螺栓连接，中间放置待测屏蔽材料，所述外导体(10)的内部与内导体(12)的倾斜部分之间形成锥形过渡连接器(2)，其特征在于所述锥形过渡连接器(2)的长度范围为28～34mm且形成所述锥形过渡连接器(2)的外导体(10)的内部与内导体(12)之间有错位。

根据本实用新型的一个方面，提供了一种法兰同轴测试装置，其特征在于形成所述锥形过渡连接器(2)的外导体(10)的内部与内导体(12)之间错位的距离为0.6～1.2mm。

根据本实用新型的一个方面，提供了一种法兰同轴测试装置，其特征在于形成所述锥形过渡连接器(2)的外导体(10)的内部与内导体(12)之间的错位距离为1mm且所述内导体斜率12.1°～14.6°、所述外导体内径斜率26.1°～30.9°。

根据本实用新型的一个方面，提供了一种法兰同轴测试装置，其特征在于所述支撑介质(4)为环状聚四氟乙烯材料。

根据本实用新型的一个方面，提供了一种法兰同轴测试装置，其特征在于其所述支撑介质(4)的环大径22.52mm，小径6.67mm，所述支撑介质两端与空气(11)交界处各挖去一环形沟道。

根据本实用新型的一个方面，提供了一种法兰同轴测试装置，其特征在于所述环形沟道的尺寸为单边的环形沟道宽度范围7～11mm，深度为0.7～0.9mm。

根据本实用新型的一个方面，提供了一种法兰同轴测试装置，其特征在于所述支撑介质(4)通过所述内导体压圈(5)和所述外导体压圈(6)紧配固定，安装到所述装置上。

与现有技术相比，本实用新型拓宽了现有标准的测试频率范围，结构简单，便于进行装置的安装及调整，且易于制造。

附图说明

图1为根据本发明实施例的法兰同轴测试装置系统结构示意图；

图2为图1所示法兰同轴测试装置剖视图；

图3为图1所示法兰同轴测试装置左视图；

图4为图1所示法兰同轴测试装置右视图

图5为参考试样与负载试样图；

图中：1、N型同轴接口的阳头；2、锥形过渡连接器；3、带法兰的同轴测试夹具；4、支撑介质；5、内导体压圈；6、外导体压圈；7、带螺纹孔的法兰盘；8、待测屏蔽材料；9、带光孔的法兰盘；10、外导体；11、空气介质；12、内导体；13、N型同轴接口的阴头。

具体实施方式