[实用新型]一种药片表面缺损、杂质检测机无效

专利信息
申请号: 201020505584.5 申请日: 2010-08-26
公开(公告)号: CN201765195U 公开(公告)日: 2011-03-16
发明(设计)人: 赵明宇 申请(专利权)人: 赵明宇
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 北京金之桥知识产权代理有限公司 11137 代理人: 朱黎光
地址: 100025 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 药片 表面 缺损 杂质 检测
【权利要求书】:

1.一种药片表面缺损、杂质检测机,其特征在于,包括:

摄像装置;工控机;放置工控机的机柜;

存储待检测药片的进药斗;

第一振动筛,具有一横向设置的盒体和一横向倾斜设置在盒体上方的筛盒,以及使筛盒振动的振动装置,所述筛盒表面设置有导药槽和筛孔,筛孔位于导药槽前,导药槽内设置有下药口;

纵向设置的下药板,所述下药板设置有下药槽,所述下药槽设置有摄像窗口和使药片翻转的换向板;以及

计量辊,计量辊表面设置有药片槽,药片槽底部设置有气孔,计量辊内部设置有步进电机和气动元件;

其中,所述摄像装置、步进电机和气动元件分别电连接工控机,所述下药板的下药槽与所述导药槽内的下药口对应连接,计量辊设置在下药板下部,摄像装置设置在下药板。

2.根据权利要求1所述药片表面缺损、杂质检测机,其特征在于,还包括:第二振动筛,所述第二振动筛与第一振动筛构成阶梯状,第一振动筛位于第二振动筛下方。

3.根据权利要求2所述药片表面缺损、杂质检测机,其特征在于,所述第二振动筛具有一盒体、一横向倾斜设置在盒体上方的筛盒和一使筛盒振动的振动装置,所述筛盒表面设置有筛孔。

4.根据权利要求1所述药片表面缺损、杂质检测机,其特征在于,还包括连接第一振动筛的筛盒底部的第一集药盒。

5.根据权利要求3所述药片表面缺损、杂质检测机,其特征在于,还包括:连接第二振动筛的筛盒底部的第二集药盒。

6.根据权利要求4或5所述药片表面缺损、杂质检测机,其特征在于,所述第二振动筛的第二集药盒和第一振动筛的第一集药盒向的前端设置有漏斗。

7.根据权利要求6所述药片表面缺损、杂质检测机,其特征在于,所述振动装置为电磁激振器。

8.根据权利要求7所述药片表面缺损、杂质检测机,其特征在于,还包括,检测所述第一振动筛筛盒表面的药片重叠高度的料位传感器。

9.根据权利要求8所述药片表面缺损、杂质检测机,其特征在于,所述导药槽上部为漏斗形。

10.根据权利要求9所述药片表面缺损、杂质检测机,其特征在于,还包括位置传感器,位置传感器安装在下药板上,其探头朝向计量辊的药片槽。

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