[实用新型]半导体芯片互连结构及应用其的半导体封装件无效
申请号: | 201020507572.6 | 申请日: | 2010-08-27 |
公开(公告)号: | CN201829475U | 公开(公告)日: | 2011-05-11 |
发明(设计)人: | 林少雄;林建福;周辉星 | 申请(专利权)人: | 先进封装技术私人有限公司 |
主分类号: | H01L23/00 | 分类号: | H01L23/00;H01L23/52 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 新*** | 国省代码: | 新加坡;SG |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 芯片 互连 结构 应用 封装 | ||
1.一种半导体芯片互连结构,其特征在于,该半导体芯片互连结构包括:芯片、凸块组以及连接于该凸块组的焊球,其中该芯片包括接垫并具有接垫开孔,该接垫从该接垫开孔露出,该凸块组包括:第一凸块,设于该接垫;及第二凸块,设于该第一凸块上,该第二凸块的外径至少等于该第一凸块的外径。
2.如权利要求1所述的半导体芯片互连结构,其特征在于,该半导体芯片互连结构还包括绝缘层,其包覆该凸块组,其中该第二凸块的上表面外露。
3.如权利要求1所述的半导体芯片互连结构,其特征在于,该第二凸块的外径至少等于该接垫开孔的内径。
4.如权利要求3所述的半导体芯片互连结构,其特征在于,该凸块组还包括第三凸块,其设于该第二凸块;其中,该第三凸块的外径小于该第二凸块的外径。
5.如权利要求1所述的半导体芯片互连结构,其特征在于,该凸块组还包括第三凸块,其设于该第二凸块;其中,该第三凸块的外径至少等于该第二凸块的外径。
6.如权利要求1所述的半导体芯片互连结构,其特征在于,该凸块组还包括涂布层,其形成于该第一凸块及该第二凸块。
7.如权利要求6所述的半导体芯片互连结构,其特征在于,该涂布层的材质选自由镍(Ni)与金(Au)所构成的群组。
8.如权利要求1所述的半导体芯片互连结构,其特征在于,该凸块组还包括第三凸块,其设于该第二凸块,该半导体芯片互连结构还包括绝缘层,其包覆该凸块组,其中该第三凸块的上表面露出。
9.一种半导体封装件,包括基板以及半导体芯片互连结构,其特征在于,该半导体芯片互连结构包括:芯片、凸块组以及连接于该凸块组的焊球,其中该芯片包括接垫并具有接垫开孔,该接垫从该接垫开孔露出;该凸块组包括:第一凸块,设于该接垫;及第二凸块,设于该第一凸块,该第二凸块的外径至少等于该第一凸块的外径。
10.如权利要求9所述的半导体封装件,其特征在于,该半导体芯片互连结构还包括绝缘层,其包覆该凸块组,其中该第二凸块的上表面外露。
11.如权利要求9所述的半导体封装件,其特征在于,该第二凸块的外径至少等于该接垫开孔的内径。
12.如权利要求11所述的半导体封装件,其特征在于,该凸块组还包括第三凸块,设于该第二凸块;其中,该第三凸块的外径小于该第二凸块的外径。
13.如权利要求9所述的半导体封装件,其特征在于,该凸块组还包括第三凸块,其设于该第二凸块;其中,该第三凸块的外径至少等于该第二凸块的外径。
14.如权利要求9所述的半导体封装件,其特征在于,该凸块组还包括涂布层,其形成于该第一凸块及该第二凸块。
15.如权利要求14所述的半导体封装件,其特征在于,该涂布层的材质选自于由镍与金所构成的群组。
16.如权利要求9所述的半导体封装件,其特征在于,该凸块组还包括第三凸块,其设于该第二凸块,该半导体芯片互连结构还包括绝缘层,其包覆该凸块组,其中该第三凸块的上表面外露。
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