[实用新型]快速测量平面度的点触式检具有效
| 申请号： | 201020508492.2 | 申请日： | 2010-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN201852553U | 公开（公告）日： | 2011-06-01 |
| 发明（设计）人： | 李维明;岑祥荣 | 申请（专利权）人： | 广东鸿特精密技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/28 | 分类号： | G01B5/28 |
| 代理公司： | 广州新诺专利商标事务所有限公司 44100 | 代理人： | 华辉 |
| 地址： | 526070 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 快速 测量 平面 点触式检具 | ||
【权利要求书】：
1.一种快速测量平面度的点触式检具，其特征在于：包括有一与被测产品贴合接触的平模板及一滑动设于平模板上的测量部件，所述平模板设置有镂空凹槽，所述测量部件包括紧固连接的测量砧和千分表。
2.根据权利要求1所述的快速测量平面度的点触式检具，其特征在于：所述平模板的两端设置有把手。
3.根据权利要求2所述的快速测量平面度的点触式检具，其特征在于：所述平模板的平行度为0.005mm。
4.根据权利要求1所述的快速测量平面度的点触式检具，其特征在于：所述测量砧为一梯形块，其底面长度大于镂空凹槽的最大宽度，顶面设置有与千分表紧固连接用的螺孔，中部设置有贯穿测量砧供千分表测头通过的穿孔。
5.根据权利要求4所述的快速测量平面度的点触式检具，其特征在于：所述测量砧底面的平行度为0.002mm。
6.根据权利要求5所述的快速测量平面度的点触式检具，其特征在于：所述千分表通过表支架与测量砧紧固连接且其测头伸出穿孔外部。
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