[实用新型]提高总线板测试效率的装置有效

专利信息
申请号: 201020509084.9 申请日: 2010-08-30
公开(公告)号: CN201796103U 公开(公告)日: 2011-04-13
发明(设计)人: 刘韬;朱涛 申请(专利权)人: 中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高尚梅
地址: 300192*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 提高 线板 测试 效率 装置
【权利要求书】:

1.一种提高总线板测试效率的装置,它包括电源(1),与电源(1)串接的电容(2),其特征在于:还包括并联在电源(1)和电容(2)两端的若干组通断点测试支路,每条通断点测试支路由串接的电阻(4)和发光二极管(3)组成,在每条测试支路两端都设有用于与被测电路板上被测通断点对应的触点。

2.如权利要求1所述的一种提高总线板测试效率的装置,其特征在于:所述的与被测电路板上被测通断点对应的触点为接插件(5、6)。

3.如权利要求1或2所述的一种提高总线板测试效率的装置,其特征在于:所述的测试支路有128个。

4.如权利要求3所述的一种提高总线板测试效率的装置,其特征在于:所述的接插件(5、6)与测试装置分离,两者电连接。

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