[实用新型]电子元件的测试装置无效

专利信息
申请号: 201020512490.0 申请日: 2010-09-01
公开(公告)号: CN201812003U 公开(公告)日: 2011-04-27
发明(设计)人: 蔡丽文;何震宏 申请(专利权)人: 景美科技股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04;G01R1/073
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;张燕华
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 电子元件 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种电子元件的测试装置,其特征在于,包括:

一基板,布设有多个电气接点;

一连接板,固定在该基板,该连接板在对应该多个电气接点位置设有一开口;

一承载板,固接于该连接板,该承载板在对应该开口位置开设有呈阶梯状的一第一槽孔及一第二槽孔;

一绝缘构件,具有一平板及自该平板延伸出的一定位凸块,该平板跨接在该第一槽孔,该定位凸块则穿接该第二槽孔,该定位凸块设有多个针孔;以及

多个探针,每一该探针的一端电性连接该电气接点,另一端则穿出该针孔以与所述电子元件电性连接。

2.根据权利要求1所述的电子元件的测试装置,其特征在于,该承载板于该第一槽孔内设有多个螺孔,该绝缘构件的平板周缘设有与该多个螺孔相互对齐的多个穿接孔。

3.根据权利要求2所述的电子元件的测试装置,其特征在于,该绝缘构件还包含一定位板,该定位板叠置于该平板上且与该平板一起锁固于该承载板,该定位板设有供该多个探针的顶端朝上穿出的多个探针孔,该定位板的周缘设有与该多个穿接孔相互对齐的多个埋头透孔。

4.根据权利要求3所述的电子元件的测试装置,其特征在于,每一该探针是由一上探针段、一下探针段及延伸于该上探针段及该下探针段之间的一侧向连接段所组成,该上探针段朝上延伸而穿出该多个探针孔,该下探针段朝下延伸而穿出该多个针孔,该多个探针孔与该多个针孔之间具有一侧向偏移量。

5.根据权利要求4所述的电子元件的测试装置,其特征在于,该定位板在与该平板接触的表面成型有一凹槽,该平板在与该定位板接触的表面成型有一凹穴,该凹槽及该凹穴共同提供该多个探针定位及弯折所需的空间。

6.根据权利要求5所述的电子元件的测试装置,其特征在于,该基板为金属材料件,其上具有一印刷电路板,该多个电气接点形成于该印刷电路板上,该基板具有围绕该多个电气接点的多个组装孔。

7.根据权利要求6所述的电子元件的测试装置,其特征在于,该连接板为金属材料件,该连接板具有对应该多个组装孔的多个通孔,每一该通孔均为一埋头通孔,该连接板的该开口周缘成型有供该承载板固接的一定位槽,该定位槽上环设有多个固定孔及二定位柱。

8.根据权利要求7所述的电子元件的测试装置,其特征在于,该承载板为金属材料件,该承载板具有对应该多个固定孔的多个穿孔,该承载板另外具有供该二定位柱嵌入的二限位孔,该承载板的每一该穿孔均为一埋头穿孔。

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